Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Фридлендер Гавриил Оскарович
Инерциальные системы навигации / Г. О. Фридлендер. - Москва : Изд-во Физико-математической литературы, 1961. - 156 с. : ил. - Библиогр. : с. 154
Кл.слова (ненормированные):
летательные аппараты -- авиация -- навигация воздушная -- инерциальная система навигации -- беспилотные летательные аппараты -- межпланетные полеты -- инструментальные погрешности (авиация) -- погрешности методические (авиация)
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Фридлендер Гавриил Оскарович
Инерциальные системы навигации / Г. О. Фридлендер. - Москва : Изд-во Физико-математической литературы, 1961. - 156 с. : ил. - Библиогр. : с. 154
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
летательные аппараты -- авиация -- навигация воздушная -- инерциальная система навигации -- беспилотные летательные аппараты -- межпланетные полеты -- инструментальные погрешности (авиация) -- погрешности методические (авиация)
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Корчевский, В. В.
Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры / В. В. Корчевский // Измерительная техника. - N 3 (2006), С. 61-64
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- численные методы -- инструментальные погрешности -- эталонные образцы -- оценка погрешностей -- кристаллические структуры
Аннотация: Рассмотрено использование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра.
Корчевский, В. В.
Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры / В. В. Корчевский // Измерительная техника. - N 3 (2006), С. 61-64
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- численные методы -- инструментальные погрешности -- эталонные образцы -- оценка погрешностей -- кристаллические структуры
Аннотация: Рассмотрено использование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра.
3.
Подробнее
Спирин, В. Г.
Контроль качества платы тонкопленочной микросборки / В. Г. Спирин // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - N 4 (2009), С. 44-48. - Библиогр.: с. 48 (6 назв. )
ББК 32.96
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
платы -- тонкопленочная микросборка -- измерение сопротивления -- резисторы -- инструментальные погрешности -- оценка качества -- датчики
Аннотация: Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, основанный на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей.
Спирин, В. Г.
Контроль качества платы тонкопленочной микросборки / В. Г. Спирин // Приборы и системы. Управление, контроль, диагностика. - N 4 (2009), С. 44-48. - Библиогр.: с. 48 (6 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника
Автоматика и телемеханика
Кл.слова (ненормированные):
платы -- тонкопленочная микросборка -- измерение сопротивления -- резисторы -- инструментальные погрешности -- оценка качества -- датчики
Аннотация: Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, основанный на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей.
Страница 1, Результатов: 3