Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Потапов, Ю. В
Методы измерения параметров полупроводников : курс лекций / Ю. В. Потапов ; под ред. С. С. Горелика ; Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - Москва : [б. и.], 1973 - .
ч. 3 : Неравновесные процессы / Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - 128 с. : ил., схем. - Библиогр. : с. 125.
Кл.слова (ненормированные):
метод Шпитцера -- неравновесные носители заряда -- метод фотоответа -- метод Хейнса и Шокли -- импульсное поле
Доп.точки доступа:
Горелик, Семен Самуилович \ед.\
Московский институт стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Потапов, Ю. В
Методы измерения параметров полупроводников : курс лекций / Ю. В. Потапов ; под ред. С. С. Горелика ; Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - Москва : [б. и.], 1973 - .
ч. 3 : Неравновесные процессы / Московский институт стали и сплавов, Кафедра материаловедения полупроводников. - 128 с. : ил., схем. - Библиогр. : с. 125.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
метод Шпитцера -- неравновесные носители заряда -- метод фотоответа -- метод Хейнса и Шокли -- импульсное поле
Доп.точки доступа:
Горелик, Семен Самуилович \ед.\
Московский институт стали и сплавов. Кафедра материаловедения полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 1