Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 2

Отмеченные записи: 0

543 Н 766

    Новые методы спектрального анализа : сборник / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; ответственный редактор С. В. Лонцих. - Новосибирск : Наука, 1983. - 181, [4] c. : ил., табл.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- химический анализ -- атомно-абсорбционный анализ -- лазерная спектроскопия -- автоматизированный микрофотометр -- метрология спектрального анализа
Доп.точки доступа:
Лонцих, Самуил Владимирович \ред.\
Институт геохимии (Иркутск)

Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

Новые методы спектрального анализа [Текст] : сборник / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; ответственный редактор С. В. Лонцих, 1983. - 181, [4] c. с.

1.

Новые методы спектрального анализа [Текст] : сборник / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; ответственный редактор С. В. Лонцих, 1983. - 181, [4] c. с.


543 Н 766

    Новые методы спектрального анализа : сборник / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; ответственный редактор С. В. Лонцих. - Новосибирск : Наука, 1983. - 181, [4] c. : ил., табл.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- химический анализ -- атомно-абсорбционный анализ -- лазерная спектроскопия -- автоматизированный микрофотометр -- метрология спектрального анализа
Доп.точки доступа:
Лонцих, Самуил Владимирович \ред.\
Институт геохимии (Иркутск)

Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

543 Ч-724
Чичерская, Анна Леонидовна.
    Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - Екатеринбург : [б. и.], 2016. - 24 с., включ. обл. : ил., табл. - Библиогр. : с. 23-24.
На правах рукописи.

УДК

Рубрики: гальванические покрытия--толщина--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций

   гальванические покрытия--химический состав--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций


   спектральный анализ атомно-эмиссионный


Кл.слова (ненормированные):
определение химического состава покрытий -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- тлеющий разряд постоянного тока -- гальванические покрытия Ni-P -- скорость катодного распыления -- толщина гальванических покрытий -- химический состав гальванических покрытий -- анализ гальванических покрытий -- АЭС ТРПТ (атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока метод) -- метрология спектрального анализа -- авторефераты диссертаций
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

Чичерская, Анна Леонидовна. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская., 2016. - 24 с., включ. обл. с.

2.

Чичерская, Анна Леонидовна. Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока [Текст] : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская., 2016. - 24 с., включ. обл. с.


543 Ч-724
Чичерская, Анна Леонидовна.
    Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - Екатеринбург : [б. и.], 2016. - 24 с., включ. обл. : ил., табл. - Библиогр. : с. 23-24.
На правах рукописи.

УДК

Рубрики: гальванические покрытия--толщина--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций

   гальванические покрытия--химический состав--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций


   спектральный анализ атомно-эмиссионный


Кл.слова (ненормированные):
определение химического состава покрытий -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- тлеющий разряд постоянного тока -- гальванические покрытия Ni-P -- скорость катодного распыления -- толщина гальванических покрытий -- химический состав гальванических покрытий -- анализ гальванических покрытий -- АЭС ТРПТ (атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока метод) -- метрология спектрального анализа -- авторефераты диссертаций
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

Страница 1, Результатов: 2

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц