Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 4

Отмеченные записи: 0

535(075.8) К 265
Карпов, Сергей Васильевич.
    Фотографические и визуальные оптические системы : учебное пособие / С. В. Карпов, С. А. Веселков ; Сибирский государственный аэрокосмический университет, Институт физики Сибирского отделения Российской академии наук. - Красноярск : [Изд-во Сибирского аэрокосмического университета], 2012. - 295 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 256-259

УДК

Рубрики: оптические системы--учебные издания для вузов

Кл.слова (ненормированные):
оптика геометрическая -- глаз (оптика) -- аберрации оптических систем -- оптические микроскопы -- лупа -- световые микроскопы -- фотоаппараты -- фотообъективы -- фотографические системы цифровые -- цифровые фотоаппараты -- телескопические системы -- телескопы -- окуляры -- оборачивающие системы (оптика) -- бинокли
Доп.точки доступа:
Веселков, Сергей Александрович
Сибирский государственный аэрокосмический университет (Красноярск)
Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики

Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Карпов, Сергей Васильевич. Фотографические и визуальные оптические системы [Текст] : учебное пособие / С. В. Карпов, С. А. Веселков ; Сибирский государственный аэрокосмический университет, Институт физики Сибирского отделения Российской академии наук, 2012. - 295 с. с.

1.

Карпов, Сергей Васильевич. Фотографические и визуальные оптические системы [Текст] : учебное пособие / С. В. Карпов, С. А. Веселков ; Сибирский государственный аэрокосмический университет, Институт физики Сибирского отделения Российской академии наук, 2012. - 295 с. с.


535(075.8) К 265
Карпов, Сергей Васильевич.
    Фотографические и визуальные оптические системы : учебное пособие / С. В. Карпов, С. А. Веселков ; Сибирский государственный аэрокосмический университет, Институт физики Сибирского отделения Российской академии наук. - Красноярск : [Изд-во Сибирского аэрокосмического университета], 2012. - 295 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 256-259

УДК

Рубрики: оптические системы--учебные издания для вузов

Кл.слова (ненормированные):
оптика геометрическая -- глаз (оптика) -- аберрации оптических систем -- оптические микроскопы -- лупа -- световые микроскопы -- фотоаппараты -- фотообъективы -- фотографические системы цифровые -- цифровые фотоаппараты -- телескопические системы -- телескопы -- окуляры -- оборачивающие системы (оптика) -- бинокли
Доп.точки доступа:
Веселков, Сергей Александрович
Сибирский государственный аэрокосмический университет (Красноярск)
Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики

Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

621.382.049.77.002 : 658.562.012.7 : 620.179.1
Б 955

Быстров, Юрий Александрович.
    Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - Москва : Радио и связь, 1988. - 168 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 162-166.. - ISBN 5256000063

УДК

Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- методы измерения -- оптические микроскопы -- фотоэлектрические методы измерения -- дифракционные методы измерения -- полупроводниковые пластины
Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Алексеевич
Котлецов, Борис Николаевич

Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)

Быстров, Юрий Александрович. Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов., 1988. - 168 с. с.

2.

Быстров, Юрий Александрович. Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве [Текст] / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов., 1988. - 168 с. с.


621.382.049.77.002 : 658.562.012.7 : 620.179.1
Б 955

Быстров, Юрий Александрович.
    Технологический контроль размеров в микроэлектронном производстве / Ю. А. Быстров, Е. А. Колгин, Б. Н. Котлецов. - Москва : Радио и связь, 1988. - 168 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 162-166.. - ISBN 5256000063

УДК

Кл.слова (ненормированные):
интегральные микросхемы -- методы измерения -- оптические микроскопы -- фотоэлектрические методы измерения -- дифракционные методы измерения -- полупроводниковые пластины
Доп.точки доступа:
Колгин, Евгений Алексеевич
Котлецов, Борис Николаевич

Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (2)

535.31

   Родионов, Б. Н

    Инструменты для нанотехнологий / Б. Н. Родионов. - (Технологии).
   Ч. 1 // Родионов Б. Н. Строительные материалы, оборудование, технологии XXI века. - N 4 (2008), С. 68-70. - Библиогр.: с. 70 (4 назв. )

УДК
ББК 22.342

Рубрики: Физика

   Геометрическая оптика. Оптические приборы


Кл.слова (ненормированные):
строительство -- наночастицы -- микроскопы -- электронные микроскопы -- нанотехнологии -- наноматериалы -- оптические микроскопы -- объекты наноразмерного уровня -- просвечивающие электронные микроскопы
Аннотация: Рассматриваются физические принципы функционирования и устройство средств наблюдения и измерения объектов наноразмерного уровня.
Свободных экз. нет

Родионов, Б. Н Инструменты для нанотехнологий [Текст] . - (Технологии). Ч. 1

3.

Родионов, Б. Н Инструменты для нанотехнологий [Текст] . - (Технологии). Ч. 1


535.31

   Родионов, Б. Н

    Инструменты для нанотехнологий / Б. Н. Родионов. - (Технологии).
   Ч. 1 // Родионов Б. Н. Строительные материалы, оборудование, технологии XXI века. - N 4 (2008), С. 68-70. - Библиогр.: с. 70 (4 назв. )

УДК
ББК 22.342

Рубрики: Физика

   Геометрическая оптика. Оптические приборы


Кл.слова (ненормированные):
строительство -- наночастицы -- микроскопы -- электронные микроскопы -- нанотехнологии -- наноматериалы -- оптические микроскопы -- объекты наноразмерного уровня -- просвечивающие электронные микроскопы
Аннотация: Рассматриваются физические принципы функционирования и устройство средств наблюдения и измерения объектов наноразмерного уровня.
Свободных экз. нет


Семенов, Я. С.
    Фазовый состав и распределение легирующих элементов в переходном слое / Я. С. Семенов, С. К. Попова, М. П. Лебедев // Прикладная механика и техническая физика. - Т. 50, N 6 (2009), С. 207-212

УДК
ББК 30.3

Рубрики: Техника

   Материаловедение


Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ -- легирующие элементы -- химический состав -- фазовый состав -- технологические параметры -- оптические микроскопы -- плазменное напыление -- газоплазменное напыление -- переходные слои
Аннотация: С использованием методов рентгеноспектрального, рентгеноструктурного анализов и с помощью оптического микроскопа изучены химический и фазовый состав, структура и морфология легирующих элементов переходного слоя, полученного газопламенным и плазменным напылением на стали марки Ст. 3сп. Показано, что структура, химический и фазовый состав переходного слоя существенно зависят от технологических параметров, методов обработки и химического состава покрытия.
Доп.точки доступа:
Попова, С. К.
Лебедев, М. П.

Семенов, Я. С. Фазовый состав и распределение легирующих элементов в переходном слое [Текст] / Я. С. Семенов, С. К. Попова, М. П. Лебедев // Прикладная механика и техническая физика. - Т. 50, N 6 (2009), С. 207-212

4.

Семенов, Я. С. Фазовый состав и распределение легирующих элементов в переходном слое [Текст] / Я. С. Семенов, С. К. Попова, М. П. Лебедев // Прикладная механика и техническая физика. - Т. 50, N 6 (2009), С. 207-212



Семенов, Я. С.
    Фазовый состав и распределение легирующих элементов в переходном слое / Я. С. Семенов, С. К. Попова, М. П. Лебедев // Прикладная механика и техническая физика. - Т. 50, N 6 (2009), С. 207-212

УДК
ББК 30.3

Рубрики: Техника

   Материаловедение


Кл.слова (ненормированные):
рентгеноспектральный анализ -- рентгеноструктурный анализ -- легирующие элементы -- химический состав -- фазовый состав -- технологические параметры -- оптические микроскопы -- плазменное напыление -- газоплазменное напыление -- переходные слои
Аннотация: С использованием методов рентгеноспектрального, рентгеноструктурного анализов и с помощью оптического микроскопа изучены химический и фазовый состав, структура и морфология легирующих элементов переходного слоя, полученного газопламенным и плазменным напылением на стали марки Ст. 3сп. Показано, что структура, химический и фазовый состав переходного слоя существенно зависят от технологических параметров, методов обработки и химического состава покрытия.
Доп.точки доступа:
Попова, С. К.
Лебедев, М. П.

Страница 1, Результатов: 4

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц