Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Влияние углерода на формирование текстуры в электротехнической стали Fe-3% Si при горячей прокатке [Текст] / М. Л. Лобанов [и др.]. // 7 nnas. Металловедение и термическая обработка металлов : ежемесячный научно-технический и производственный журнал. - Москва : Редакция журнала,. - 2014. - № 12.
Кл.слова (ненормированные):
электротехническая сталь -- анизотропная сталь -- горячая прокатка -- ориентационная микроскопия -- сплав Fe-3% Si -- дифракция обратно рассеянных электронов
Доп.точки доступа:
Лобанов, М. Л.
Редикульцев, А. А.
Русаков, Г. М.
Данилов, С. В.
Влияние углерода на формирование текстуры в электротехнической стали Fe-3% Si при горячей прокатке [Текст] / М. Л. Лобанов [и др.]. // 7 nnas. Металловедение и термическая обработка металлов : ежемесячный научно-технический и производственный журнал. - Москва : Редакция журнала,. - 2014. - № 12.
Кл.слова (ненормированные):
электротехническая сталь -- анизотропная сталь -- горячая прокатка -- ориентационная микроскопия -- сплав Fe-3% Si -- дифракция обратно рассеянных электронов
Доп.точки доступа:
Лобанов, М. Л.
Редикульцев, А. А.
Русаков, Г. М.
Данилов, С. В.
2.
Подробнее
Взаимосвязь ориентировок деформации и рекристаллизации при горячей прокатке электротехнической анизотропной стали [Текст] / М. П. Лобанов [и др.]. // 7 nnas. Металловедение и термическая обработка металлов : ежемесячный научно-технический и производственный журнал. - Москва : Редакция журнала,. - 2015. - № 8 (722).
Кл.слова (ненормированные):
электротехническая анизотропная сталь -- горячая прокатка -- рекристаллизация -- ориентационная микроскопия -- прямые полюсные фигуры -- специальные разориентации -- деформации стали
Доп.точки доступа:
Лобанов, М. Л.
Редикульцев, А. А.
Русаков, Г. М.
Данилов, С. В.
Взаимосвязь ориентировок деформации и рекристаллизации при горячей прокатке электротехнической анизотропной стали [Текст] / М. П. Лобанов [и др.]. // 7 nnas. Металловедение и термическая обработка металлов : ежемесячный научно-технический и производственный журнал. - Москва : Редакция журнала,. - 2015. - № 8 (722).
Кл.слова (ненормированные):
электротехническая анизотропная сталь -- горячая прокатка -- рекристаллизация -- ориентационная микроскопия -- прямые полюсные фигуры -- специальные разориентации -- деформации стали
Доп.точки доступа:
Лобанов, М. Л.
Редикульцев, А. А.
Русаков, Г. М.
Данилов, С. В.
3.
Подробнее
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
| УДК |
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 3