Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 2

Отмеченные записи: 0

621.396 О-753

    Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко. - Москва : Высшая школа, 1968. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 314-316
Прил. : с. 307-313

УДК

Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура -- ремонтопригодность -- теория контроля -- теория надежности -- параметры надежности
Доп.точки доступа:
Быкадоров, Александр Константинович
Кульбак, Леонид Игоревич
Лавриненко, Владимир Юлианович \ред.\

Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры [Текст] : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко, 1968. - 319 с. с.

1.

Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры [Текст] : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко, 1968. - 319 с. с.


621.396 О-753

    Основы эксплуатации радиоэлектронной аппаратуры : учебное пособие для радиотехнических специальностей вузов / А. К. Быкадоров, Л. И. Кульбак, В. Ю. Лавриненко [и др.] ; под ред. В. Ю. Лавриненко. - Москва : Высшая школа, 1968. - 319 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 314-316
Прил. : с. 307-313

УДК

Кл.слова (ненормированные):
радиоэлектронная аппаратура -- ремонтопригодность -- теория контроля -- теория надежности -- параметры надежности
Доп.точки доступа:
Быкадоров, Александр Константинович
Кульбак, Леонид Игоревич
Лавриненко, Владимир Юлианович \ред.\

Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)

621.382 П 429

    Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57

УДК

Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов [Текст] / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований, 1969. - 58 с. с.

2.

Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов [Текст] / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований, 1969. - 58 с. с.


621.382 П 429

    Повышение надежности и новые методы контроля полупроводниковых приборов / М. М. Некрасов, В. А. Гусев, В. И. Попеначенко [и др.] ; Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований. - Киев : [б. и.], 1969. - 58 с. : табл., ил. - Библиогр. : с. 56-57

УДК

Кл.слова (ненормированные):
приборы полупроводниковые -- параметры надежности приборов -- неразрушающий контроль -- токи в p-n переходе -- прогнозирование надежности изделий
Доп.точки доступа:
Некрасов, Михаил Макарович
Гусев, Владимир Александрович
Попеначенко, Валентин Иванович
Украинский научно-исследовательский институт научно-технической информации и технико-экономических исследований

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Страница 1, Результатов: 2

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц