Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 2

Отмеченные записи: 0

539.2(075.8) С 891
Суворов, Эрнест Витальевич.
    Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119

УДК

Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов

   кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов


   материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов


   твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Суворов, Эрнест Витальевич. Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов [Текст] : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов, 2021. - 179, [1] с. с.

1.

Суворов, Эрнест Витальевич. Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов [Текст] : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов, 2021. - 179, [1] с. с.


539.2(075.8) С 891
Суворов, Эрнест Витальевич.
    Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119

УДК

Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов

   кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов


   материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов


   твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

539 П 858

    Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.]. - Москва : Мир, 1965. - 351 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
дефекты в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- дифракционный контраст -- рентгеновские лучи -- топограмма прямого пучка -- происхождение рентгеновских лучей
Доп.точки доступа:
Ефимов, О. Н. \пер.\
Звинчук, Р. А. \пер.\
Сорокин, Л. М. \пер.\

Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)

Прямые методы исследования дефектов в кристаллах [Текст] / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.], 1965. - 351 с. с.

2.

Прямые методы исследования дефектов в кристаллах [Текст] / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.], 1965. - 351 с. с.


539 П 858

    Прямые методы исследования дефектов в кристаллах / пер. с англ. О. Н. Ефимова, Р. А. Звинчука, Л. М. Сорокина [и др.]. - Москва : Мир, 1965. - 351 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
дефекты в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- дифракционный контраст -- рентгеновские лучи -- топограмма прямого пучка -- происхождение рентгеновских лучей
Доп.точки доступа:
Ефимов, О. Н. \пер.\
Звинчук, Р. А. \пер.\
Сорокин, Л. М. \пер.\

Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)

Страница 1, Результатов: 2

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц