Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ответственный редактор И. Л. Шульпина ; перевод с английского И. Л. Шульпиной, Т. С. Аргуновой. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 269-274. - ISBN 5020249637
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
кристаллофизика -- дифракция -- рентгеновские лучи -- электронная техника -- рентгеновская топография
Доп.точки доступа:
Шульпина, И. Л. \ред.\
Аргунова, Т. С. \пер.\
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1), Ч/З о. Русский (1)
Боуэн, Д. К.
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер ; ответственный редактор И. Л. Шульпина ; перевод с английского И. Л. Шульпиной, Т. С. Аргуновой. - Санкт-Петербург : Наука, 2002. - 273, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 269-274. - ISBN 5020249637
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллофизика -- дифракция -- рентгеновские лучи -- электронная техника -- рентгеновская топография
Доп.точки доступа:
Шульпина, И. Л. \ред.\
Аргунова, Т. С. \пер.\
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1), Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
| УДК |
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Чжан, Шилин.
Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах / Ш. Чжан ; пер. с англ. М. А. Поликарпова. - Москва : Мир, 1987. - 334 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 317-328.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
дифракция рентгеновских лучей -- рентгеновские лучи -- дифракция -- геометрия многоволновой дифракции -- трехлучевая дифракция -- многоволновая дифракция -- рентгеновская топография
Доп.точки доступа:
Поликарпов, М. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Чжан, Шилин.
Многоволновая дифракция рентгеновских лучей в кристаллах / Ш. Чжан ; пер. с англ. М. А. Поликарпова. - Москва : Мир, 1987. - 334 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 317-328.
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
дифракция рентгеновских лучей -- рентгеновские лучи -- дифракция -- геометрия многоволновой дифракции -- трехлучевая дифракция -- многоволновая дифракция -- рентгеновская топография
Доп.точки доступа:
Поликарпов, М. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 3