Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 2, Результатов: 11
Отмеченные записи: 0
11.
Подробнее
Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64
ББК 22.36
Рубрики: Физика
Молекулярная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
туннельно-зондовые нанотехнологии -- Si-SiO2-полимеры -- микроскопия -- слоистые структуры -- электроны -- нанотехнологии -- модификация
Аннотация: Исследование процессов модификации поверхности в структуре Si-SiO2-полимера.
Исследование слоистых структур Si-SiO& dn 2; и Si-SiO& dn 2;-полимер методом сканирующей туннельной микроскопии как пример туннельно-зондовой нанотехнологии // Нанотехнологии. - N 3 (2009), С. 54-64
| УДК |
Рубрики: Физика
Молекулярная физика в целом
Кл.слова (ненормированные):
туннельно-зондовые нанотехнологии -- Si-SiO2-полимеры -- микроскопия -- слоистые структуры -- электроны -- нанотехнологии -- модификация
Аннотация: Исследование процессов модификации поверхности в структуре Si-SiO2-полимера.
Страница 2, Результатов: 11