Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 3

Отмеченные записи: 0


Неволин, В.
    Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547

Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии

   наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии


Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Неволин, В. Зондовые нанотехнологии в электронике [Текст] : учебное пособие / В. Неволин., 2005. - 148 с. с.

1.

Неволин, В. Зондовые нанотехнологии в электронике [Текст] : учебное пособие / В. Неволин., 2005. - 148 с. с.



Неволин, В.
    Зондовые нанотехнологии в электронике : учебное пособие / В. Неволин. - Москва : Техносфера, 2005. - 148 с. : ил., табл. - (Мир электроники ; VII, 25.). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360547

Рубрики: микроэлектроника--нанотехнологии--монографии

   наноэлектроника--зондовая нанотехнология--нанотрубки--монографии


Кл.слова (ненормированные):
зондовая микроскопия -- микроскопы зондовые -- нанотехнологии в электронике -- нанотрубки углеродные -- зондовая нанотехнология -- углеродная нанотехнология -- интегральные квантовые схемы -- туннельные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Экземпляры всего: 2
ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: ЕКВ ауд.402 учебная (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

539.2(075.8) Г 957
Гуртов, Валерий Алексеевич.
    Физика твердого тела для инженеров : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина. - Москва : Техносфера, 2007. - 520 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 08.). - Библиогр. : с. 505 - 510.

УДК

Рубрики: физика твердого тела--учебные издания для вузов

   физика конденсированного состояния--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
твердые тела (физика) -- кристаллография -- кристаллические решетки (физика) -- межатомные связи -- сверхпроводимость -- фазовые переходы -- равновесие фаз (физика твердого тела) -- термоэлектронная эмиссия -- автоэлектронная эмиссия -- туннельные микроскопы -- туннельная инжекция -- твердотельные полевые приборы -- дар от вузов -- университетская книга (конкурс)
Доп.точки доступа:
Осауленко, Роман Николаевич
Алешина, Л. А. \ред.\

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Гуртов, Валерий Алексеевич. Физика твердого тела для инженеров [Текст] : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина., 2007. - 520 с. с.

2.

Гуртов, Валерий Алексеевич. Физика твердого тела для инженеров [Текст] : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина., 2007. - 520 с. с.


539.2(075.8) Г 957
Гуртов, Валерий Алексеевич.
    Физика твердого тела для инженеров : учебное пособие для вузов / В. А. Гуртов, Р. Н. Осауленко ; науч. ред. Л. А. Алешина. - Москва : Техносфера, 2007. - 520 с. : ил., табл. - (Мир физики и техники ; II, 08.). - Библиогр. : с. 505 - 510.

УДК

Рубрики: физика твердого тела--учебные издания для вузов

   физика конденсированного состояния--учебные издания для вузов


Кл.слова (ненормированные):
твердые тела (физика) -- кристаллография -- кристаллические решетки (физика) -- межатомные связи -- сверхпроводимость -- фазовые переходы -- равновесие фаз (физика твердого тела) -- термоэлектронная эмиссия -- автоэлектронная эмиссия -- туннельные микроскопы -- туннельная инжекция -- твердотельные полевые приборы -- дар от вузов -- университетская книга (конкурс)
Доп.точки доступа:
Осауленко, Роман Николаевич
Алешина, Л. А. \ред.\

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)


Карташев, В. А.
    Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164. - Библиогр.: c. 164 (7 назв. )

УДК
ББК 32.96

Рубрики: Радиоэлектроника

   Автоматика и телемеханика


Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- зонды -- колебания -- система управления туннельным микроскопом -- зондовые туннельные микроскопы
Аннотация: Дается оценка зависимости амплитуды колебаний иглы от амплитуды колебаний основания для некоторых моделей туннельных микроскопов. Показано, что помимо поступательных колебаний измерительного блока, вклад которых в ошибки измерений мал, на иглу передаются колебания, связанные с его раскачиванием в упругом подвесе.
Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.

Карташев, В. А. Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда [Текст] / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164

3.

Карташев, В. А. Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда [Текст] / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164



Карташев, В. А.
    Влияние колебаний основания туннельного микроскопа на отклонения от программного движения зонда / В. А. Карташев, В. В. Карташев // Известия РАН. Теория и системы управления. - N 4 (2008), С. 159-164. - Библиогр.: c. 164 (7 назв. )

УДК
ББК 32.96

Рубрики: Радиоэлектроника

   Автоматика и телемеханика


Кл.слова (ненормированные):
туннельные микроскопы -- зонды -- колебания -- система управления туннельным микроскопом -- зондовые туннельные микроскопы
Аннотация: Дается оценка зависимости амплитуды колебаний иглы от амплитуды колебаний основания для некоторых моделей туннельных микроскопов. Показано, что помимо поступательных колебаний измерительного блока, вклад которых в ошибки измерений мал, на иглу передаются колебания, связанные с его раскачиванием в упругом подвесе.
Доп.точки доступа:
Карташев, В. В.

Страница 1, Результатов: 3

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц