Перейти к содержимому
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 1
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон [и др.]. - Москва : Мир, 1968. - 574 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия кристаллов -- тонкие кристаллы -- электронный микроскоп -- дифракция электронов -- геометрия электронограмм -- электронограммы -- темнопольная микроскопия -- стереомикроскопия -- неупругое рассеяние
Доп.точки доступа:
Хирш, П.
Хови, А.
Николсон, Р.
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Электронная микроскопия тонких кристаллов : пер. с англ. / П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон [и др.]. - Москва : Мир, 1968. - 574 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл. - Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия кристаллов -- тонкие кристаллы -- электронный микроскоп -- дифракция электронов -- геометрия электронограмм -- электронограммы -- темнопольная микроскопия -- стереомикроскопия -- неупругое рассеяние
Доп.точки доступа:
Хирш, П.
Хови, А.
Николсон, Р.
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 1