Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Ильященко, Владимир Михайлович.
Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Владивосток : [б. и.], 2007. - 110 л. с. : ил., табл. - Библиогр. : л. 100-110
На правах рукописи
Рубрики: тонкие пленки--физика--диссертации
Кл.слова (ненормированные):
нанопленки -- магнитные пленки -- нанослои (физика) -- магнитные переходные металлы -- силициды -- тонкопленочные нанофазы -- кремниевая электроника -- наноструктуры -- наногетероструктуры -- силицидообразование -- переходные металлы (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- выращивание сверхтонких нанослоев -- дифракции медленных электронов метод -- сверхтонкие нанослои -- диссертации -- физика конденсированного состояния
Доп.точки доступа:
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Ильященко, Владимир Михайлович.
Формирование границы раздела при послойном росте Cr, Co и Fe на Si (111) : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Владимир Михайлович Ильященко ; Российская академия наук, Дальневосточное отделение, Институт автоматики и процессов управления. - Владивосток : [б. и.], 2007. - 110 л. с. : ил., табл. - Библиогр. : л. 100-110
На правах рукописи
| УДК |
Рубрики: тонкие пленки--физика--диссертации
Кл.слова (ненормированные):
нанопленки -- магнитные пленки -- нанослои (физика) -- магнитные переходные металлы -- силициды -- тонкопленочные нанофазы -- кремниевая электроника -- наноструктуры -- наногетероструктуры -- силицидообразование -- переходные металлы (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- выращивание сверхтонких нанослоев -- дифракции медленных электронов метод -- сверхтонкие нанослои -- диссертации -- физика конденсированного состояния
Доп.точки доступа:
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Лифшиц, В. Г.
Основы физики поверхности полупроводников : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН. - Владивосток : [б. и.], 1999. - 157 с. : ил. - Библиогр. в конце лекций.
Рубрики: твердые тела--поверхностные свойства--спектроскопические исследования--учебные издания
пленки тонкие--спектроскопические исследования--учебные издания
физика тонких пленок--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
поверхность твердого тела -- оже-спектроскопия -- физика твердого тела -- полупроводники -- тонкие пленки (физика) -- поверхности кремния -- поверхностные фазы на кремнии (электрофизические свойства) -- спектроскопия электронная -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронами (ХПЭЭ) -- кремний (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- сканирующая туннельная микроскопия -- твердофазная эпитаксия металлов -- сверхрешетки -- электропроводность поверхностных фаз -- диффузия по поверхности кремния -- физика поверхности полупроводников
Доп.точки доступа:
Саранин, Александр Александрович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Лифшиц, В. Г.
Основы физики поверхности полупроводников : учебное пособие / В. Г. Лифшиц ; [отв. ред. А. А. Саранин] ; Дальневосточный государственный университет, Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН. - Владивосток : [б. и.], 1999. - 157 с. : ил. - Библиогр. в конце лекций.
| УДК |
Рубрики: твердые тела--поверхностные свойства--спектроскопические исследования--учебные издания
пленки тонкие--спектроскопические исследования--учебные издания
физика тонких пленок--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
поверхность твердого тела -- оже-спектроскопия -- физика твердого тела -- полупроводники -- тонкие пленки (физика) -- поверхности кремния -- поверхностные фазы на кремнии (электрофизические свойства) -- спектроскопия электронная -- спектроскопия характеристических потерь энергии электронами (ХПЭЭ) -- кремний (физика) -- электронной Оже-спектроскопии метод (ЭОС) -- сканирующая туннельная микроскопия -- твердофазная эпитаксия металлов -- сверхрешетки -- электропроводность поверхностных фаз -- диффузия по поверхности кремния -- физика поверхности полупроводников
Доп.точки доступа:
Саранин, Александр Александрович \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)
Институт автоматики и процессов управления (Владивосток)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 2