Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 19
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Пшеницын, Владимир Ильич.
Эллипсометрия в физико-химических исследованиях / В. И. Пшеницын, М. И. Абаев, Н. Ю. Лызлов. - Ленинград : Химия, 1986. - 152 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 147-450.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- физико-химические исследования -- исследование поверхности жидкостей -- исследования поверхности стекла
Доп.точки доступа:
Абаев, Марат Исхакович
Лызлов, Никита Юрьевич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Пшеницын, Владимир Ильич.
Эллипсометрия в физико-химических исследованиях / В. И. Пшеницын, М. И. Абаев, Н. Ю. Лызлов. - Ленинград : Химия, 1986. - 152 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 147-450.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- физико-химические исследования -- исследование поверхности жидкостей -- исследования поверхности стекла
Доп.точки доступа:
Абаев, Марат Исхакович
Лызлов, Никита Юрьевич
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Жевандров, Николай Дмитриевич.
Применение поляризованного света / Н. Д. Жевандров ; [отв. ред. М. М. Сущинский] ; Академия наук СССР. ; Академия наук СССР. - Москва : Наука, 1978. - 176 c. : ил. - (Наука и технический прогресс). - Библиогр. : с. 175.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- электротехнические измерения -- молекулярные кристаллы -- кристаллография -- жидкие кристаллы -- применение поляризованного света -- световые потоки -- поляризация света -- полимеры
Доп.точки доступа:
Сущинский, М. М. \ред.\
Академия наук СССР
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Жевандров, Николай Дмитриевич.
Применение поляризованного света / Н. Д. Жевандров ; [отв. ред. М. М. Сущинский] ; Академия наук СССР. ; Академия наук СССР. - Москва : Наука, 1978. - 176 c. : ил. - (Наука и технический прогресс). - Библиогр. : с. 175.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- электротехнические измерения -- молекулярные кристаллы -- кристаллография -- жидкие кристаллы -- применение поляризованного света -- световые потоки -- поляризация света -- полимеры
Доп.точки доступа:
Сущинский, М. М. \ред.\
Академия наук СССР
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Эллипсометрия : теория, методы, приложения : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. : К. К. Свиташев, А. С. Мардежов. - Новосибирск : Наука, 1991. - 262 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.. - ISBN 5020299162
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- эллипсометрическая аппаратура -- применение эллипсометрии -- оптические технологии -- физическая химия -- микроэлектроника
Доп.точки доступа:
Свиташев, К. К. \ред.\
Мардежов, А. С. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Эллипсометрия : теория, методы, приложения : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. : К. К. Свиташев, А. С. Мардежов. - Новосибирск : Наука, 1991. - 262 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.. - ISBN 5020299162
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия -- эллипсометрическая аппаратура -- применение эллипсометрии -- оптические технологии -- физическая химия -- микроэлектроника
Доп.точки доступа:
Свиташев, К. К. \ред.\
Мардежов, А. С. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Алгоритмы и программы для численного решения некоторых задач эллипсометрии / [И. Г. Бурыкин, Л. П. Воробьева, В. В. Грушецкий и др.] ; отв. ред. А. В. Ржанов ; Академи наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, 1980. - 186 c. : ил. - Библиогр. : с. 185.
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
однослойные системы -- эллипсометрия -- задачи эллипсометрии
Доп.точки доступа:
Бурыкин, Игорь Григорьевич
Воробьева, Лариса Павловна
Грушецкий, Валерий Викторович
Ржанов, А. В. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Алгоритмы и программы для численного решения некоторых задач эллипсометрии / [И. Г. Бурыкин, Л. П. Воробьева, В. В. Грушецкий и др.] ; отв. ред. А. В. Ржанов ; Академи наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников. - Новосибирск : Наука, 1980. - 186 c. : ил. - Библиогр. : с. 185.
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
однослойные системы -- эллипсометрия -- задачи эллипсометрии
Доп.точки доступа:
Бурыкин, Игорь Григорьевич
Воробьева, Лариса Павловна
Грушецкий, Валерий Викторович
Ржанов, А. В. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
5.
Подробнее
Батавин, Виталий Васильевич.
Контроль параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев / В. В. Батавин ; [ред. кол. : В. М. Пролейко (отв. ред.) и др.]. - Москва : Радио и связь, 1976. - 104 с. : табл., ил. - (Массовая библиотека инженера "Электроника"). - Библиогр. : с. 95-101.
Ред. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- эффект Холла -- метод Ван-дер-Пау -- эффект Фарадея -- фотолюминесценция -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Пролейко, В. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Батавин, Виталий Васильевич.
Контроль параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев / В. В. Батавин ; [ред. кол. : В. М. Пролейко (отв. ред.) и др.]. - Москва : Радио и связь, 1976. - 104 с. : табл., ил. - (Массовая библиотека инженера "Электроника"). - Библиогр. : с. 95-101.
Ред. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- эффект Холла -- метод Ван-дер-Пау -- эффект Фарадея -- фотолюминесценция -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Пролейко, В. М. \ред.\
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
6.
Подробнее
Аззам, Р.
Эллипсометрия и поляризованный свет / Р. Аззам, Н. Башара ; пер. с англ. А. В. Ржанова, К. К. Свиташева. - Москва : Мир, 1981. - 583 c. : ил. - Библиогр. : с. 557-571.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
поляризованный свет -- эллипсометрия -- поляризация световых волн -- световые волны -- поляризующие оптические системы -- распространение поляризованного света -- техника эллипсометрии -- применения эллипсометрии
Доп.точки доступа:
Башара, Н.
Ржанов, А. В. \пер.\
Свиташев, К. К. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Аззам, Р.
Эллипсометрия и поляризованный свет / Р. Аззам, Н. Башара ; пер. с англ. А. В. Ржанова, К. К. Свиташева. - Москва : Мир, 1981. - 583 c. : ил. - Библиогр. : с. 557-571.
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
поляризованный свет -- эллипсометрия -- поляризация световых волн -- световые волны -- поляризующие оптические системы -- распространение поляризованного света -- техника эллипсометрии -- применения эллипсометрии
Доп.точки доступа:
Башара, Н.
Ржанов, А. В. \пер.\
Свиташев, К. К. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
7.
Подробнее
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; под ред. И. С. Ковалева ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1985. - 104 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 99-102.
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия радиоволновая -- применение эллипсометрии -- радиоволновый эллипсометр -- диэлектрики -- устройства измерения эллиптичности -- деполяризующие свойства пленок -- свойства тонких пленок
Доп.точки доступа:
Кулешов, Евгений Митрофанович
Пунько, Николай Николаевич
Ковалев, И. С. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия / В. А. Конев, Е. М. Кулешов, Н. Н. Пунько ; под ред. И. С. Ковалева ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1985. - 104 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 99-102.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия радиоволновая -- применение эллипсометрии -- радиоволновый эллипсометр -- диэлектрики -- устройства измерения эллиптичности -- деполяризующие свойства пленок -- свойства тонких пленок
Доп.точки доступа:
Кулешов, Евгений Митрофанович
Пунько, Николай Николаевич
Ковалев, И. С. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (402) (1)
8.
Подробнее
Некоторые проблемы физики и химии поверхности полупроводников / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; под ред. А. В. Ржанова. - Новосибирск : Наука, 1972. - 250 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Кл.слова (ненормированные):
физика полупроводников -- химия полупроводников -- полупроводники -- поверхность полупроводников -- германий -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, А. В. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Некоторые проблемы физики и химии поверхности полупроводников / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; под ред. А. В. Ржанова. - Новосибирск : Наука, 1972. - 250 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
физика полупроводников -- химия полупроводников -- полупроводники -- поверхность полупроводников -- германий -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, А. В. \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
9.
Подробнее
Современные проюлемы эллипсометрии / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1980. - 192 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.
Кл.слова (ненормированные):
применение эллипсометрии -- эллипсометры -- спектральные эллипсометры -- номограммы -- эллипсометрические расчеты -- оже-спектроскопия -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Современные проюлемы эллипсометрии / Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт физики полупроводников ; отв. ред. А. В. Ржанов. - Новосибирск : Наука, 1980. - 192 с. : ил. - Библиогр. в конце ст.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
применение эллипсометрии -- эллипсометры -- спектральные эллипсометры -- номограммы -- эллипсометрические расчеты -- оже-спектроскопия -- эллипсометрия
Доп.точки доступа:
Ржанов, Анатолий Васильевич \ред.\
Академия наук СССР. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
10.
Подробнее
Шевчук, Е. Ю.
Исследования методами спектральной эллипсометрии и дифракции быстрых электронов состава пленок на окисленной поверхности кремния / Е. Ю. Шевченко, В. В. Балашев. // Всероссийская конференция студентов, аспирантов и молодых ученых по физике. (2010 ; Владивосток). Материалы ..., 12 - 14 мая 2010 г. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного университета, 2010.. - ISSN 9875-7444
Рубрики: Владивосток, город (Приморский край)
Кл.слова (ненормированные):
ДВГУ (труды преподавателей) -- спинтроника -- магнитные материалы -- спектральная эллипсометрия -- кремний -- поверхность кремния
Доп.точки доступа:
Балашев, В. В.
Шевчук, Е. Ю.
Исследования методами спектральной эллипсометрии и дифракции быстрых электронов состава пленок на окисленной поверхности кремния / Е. Ю. Шевченко, В. В. Балашев. // Всероссийская конференция студентов, аспирантов и молодых ученых по физике. (2010 ; Владивосток). Материалы ..., 12 - 14 мая 2010 г. - Владивосток : Изд-во Дальневосточного университета, 2010.. - ISSN 9875-7444
Рубрики: Владивосток, город (Приморский край)
Кл.слова (ненормированные):
ДВГУ (труды преподавателей) -- спинтроника -- магнитные материалы -- спектральная эллипсометрия -- кремний -- поверхность кремния
Доп.точки доступа:
Балашев, В. В.
Страница 1, Результатов: 19