Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Симоненко, З. Г.
Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )
ББК 32.86-5
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовые приборы
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.
Симоненко, З. Г.
Современные эллипсометрические методы решения задач нанотехнологического исследования материалов / З. Г. Симоненко // Металлообработка. - N 2 (2009), С. 58-62. - Библиогр.: с. 62 (6 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника
Квантовые приборы
Кл.слова (ненормированные):
нанотехнологические исследования -- исследования материалов -- лазерные эллипсометры -- информационно-измерительные системы -- эллипсометрические методы -- эллипсометрия отражения -- эллипсометрия пропускания
Аннотация: Рассмотрены современные эллипсометрические методы исследования материалов для решения задач нанотехнологий. Описаны эллипсометрия отражения и пропускания, а также типы применяемых лазерных эллипсометров, показаны перспективы их использования.
2.
Подробнее
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Конев, Владимир Афанасьевич.
Радиоволновая эллипсометрия диэлектрических структур / В. А. Конев, Н. В. Любецкий, С. А. Тиханович ; [науч. ред. А. Г. Шашков] ; Академия наук Белорусской ССР, Институт прикладной физики. ; Академия наук БССР, Институт прикладной физики. - Минск : Наука и техника, 1989. - 133 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 129-131.. - ISBN 5343000592
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эллипсометрия отражательная -- эллипсометрия радиоволновая -- эллипсометрия пропускания -- диэлектрические материалы -- радиоволновые эллипсометры -- эллипсометрических параметров методы измерения -- диэлектрический слой на металлических подложках -- диэлектрические свойства покрытий металлов -- диэлектрические покрытия диэлектриков
Доп.точки доступа:
Любецкий, Николай Васильевич
Тиханович, Сергей Александрович
Шашков, А. Г. \ред.\
Академия наук БССР. Институт прикладной физики
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 2