Электронный каталог


 

База данных: Электронный каталог ДВФУ

Страница 1, Результатов: 12

Отмеченные записи: 0

621.382 А 432

    Активируемые процессы технологии микроэлектроники : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники (МИЭТ) ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков]. - Москва : [б. и.], 1980. - 123 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- физико-химические процессы -- анизотропное травление кремния -- нанесение покрытий вольфрама -- фотостимуляция процесса нанесения покрытий -- эпитаксиальные слои арсенида галлия -- эпитаксиальные слои селенида кадмия
Доп.точки доступа:
Чистяков, Ю. Д. \ред.\
Московский институт электронной техники

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Активируемые процессы технологии микроэлектроники [Текст] : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники (МИЭТ) ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков], 1980. - 123 с. с.

1.

Активируемые процессы технологии микроэлектроники [Текст] : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники (МИЭТ) ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков], 1980. - 123 с. с.


621.382 А 432

    Активируемые процессы технологии микроэлектроники : сборник научных трудов / Московский институт электронной техники (МИЭТ) ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков]. - Москва : [б. и.], 1980. - 123 с. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
микроэлектроника -- физико-химические процессы -- анизотропное травление кремния -- нанесение покрытий вольфрама -- фотостимуляция процесса нанесения покрытий -- эпитаксиальные слои арсенида галлия -- эпитаксиальные слои селенида кадмия
Доп.точки доступа:
Чистяков, Ю. Д. \ред.\
Московский институт электронной техники

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)


Игнатюк, В. А.
    Электрические свойства эпитаксиальных слоев теллурида цинка / Игнатюк В.А.; Под ред. В.В.Ветер; ДВГУ // Физика твердого тела. - 1972,,С.354-357

УДК

Кл.слова (ненормированные):
краеведение -- ДВГУ -- ДВГУ (труды преподавателей) -- теллурид цинка -- электрические свойства -- эпитаксиальные слои
Доп.точки доступа:
Ветер, В. В \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)

Игнатюк, В. А. Электрические свойства эпитаксиальных слоев теллурида цинка [Текст] / Игнатюк В.А.; Под ред. В.В.Ветер; ДВГУ. - С.354-357 с. // Физика твердого тела. - 1972,,С.354-357

2.

Игнатюк, В. А. Электрические свойства эпитаксиальных слоев теллурида цинка [Текст] / Игнатюк В.А.; Под ред. В.В.Ветер; ДВГУ. - С.354-357 с. // Физика твердого тела. - 1972,,С.354-357



Игнатюк, В. А.
    Электрические свойства эпитаксиальных слоев теллурида цинка / Игнатюк В.А.; Под ред. В.В.Ветер; ДВГУ // Физика твердого тела. - 1972,,С.354-357

УДК

Кл.слова (ненормированные):
краеведение -- ДВГУ -- ДВГУ (труды преподавателей) -- теллурид цинка -- электрические свойства -- эпитаксиальные слои
Доп.точки доступа:
Ветер, В. В \ред.\
Дальневосточный государственный университет (Владивосток)

Шифр: vtls000662037 (Журнал)
Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС".
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники : [научный журнал]/ Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" ; гл. ред. Ю. Н. Пархоменко. - Москва : Изд. дом Московского института стали и сплавов. - Журнал по решению ВАК включен в Перечень периодических и научно-технических изданий, выпускаемых в РФ, в которых рекомендуется публикация основных результатов диссертаций на соискание ученой степени доктора наук. - Выходит ежеквартально. - ISSN 1609-3577

Рубрики:
материаловедение -- периодические издания
электроника -- периодические издания

Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- диэлектрики -- магнитные материалы -- кристаллические полупроводники -- многослойные композиции (материаловедение) -- наноструктурированные материалы -- нанокристаллы -- монокристаллы -- эпитаксиальные слои (электроника)
Зарегистрированы поступления:
2014  2013  2012  2011  2010  2009  2008  2015  2002  2016  2019 

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники : [научный журнал] / Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" ; гл. ред. Ю. Н. Пархоменко. - Журнал

3.

Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники : [научный журнал] / Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" ; гл. ред. Ю. Н. Пархоменко. - Журнал

Открыть исходную запись


Шифр: vtls000662037 (Журнал)
Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС".
Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники : [научный журнал]/ Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" ; гл. ред. Ю. Н. Пархоменко. - Москва : Изд. дом Московского института стали и сплавов. - Журнал по решению ВАК включен в Перечень периодических и научно-технических изданий, выпускаемых в РФ, в которых рекомендуется публикация основных результатов диссертаций на соискание ученой степени доктора наук. - Выходит ежеквартально. - ISSN 1609-3577

Рубрики:
материаловедение -- периодические издания
электроника -- периодические издания

Кл.слова (ненормированные): полупроводники -- диэлектрики -- магнитные материалы -- кристаллические полупроводники -- многослойные композиции (материаловедение) -- наноструктурированные материалы -- нанокристаллы -- монокристаллы -- эпитаксиальные слои (электроника)
Зарегистрированы поступления:
2014  2013  2012  2011  2010  2009  2008  2015  2002  2016  2019 


Кютт, Р. Н.
    О роли вторичной экстинции при измерении интегральной интенсивности рентгенодифракционных пиков и определении толщины нарушенных эпитаксиальных слоев [Текст] / Р. Н. Кютт. // 7 nnas. Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 6.

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные слои АIII-нитридов -- интегральная интенсивность -- Лауэ-отражение -- рентгеновские лучи -- оптические принципы

Кютт, Р. Н. О роли вторичной экстинции при измерении интегральной интенсивности рентгенодифракционных пиков и определении толщины нарушенных эпитаксиальных слоев [Текст] / Р. Н. Кютт. - С. 1058-1064. с. // Физика твердого тела. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 58, вып. 6.



    Влияние толщины нанослоя Ti на процесс самоотделения толстых эпитаксиальных слоев GaN [Текст] / А. А. Югов [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

Кл.слова (ненормированные):
квазиподложки -- нанослой титана -- эпитаксиальные слои -- нитридизация аморфного слоя Ti -- метод хлоридно-гидридной эпитаксии
Доп.точки доступа:
Югов, А. А.
Малахов, С. С.
Донсков, А. А.
Духновский, М. П.
Князев, С. Н.
Козлова, Ю. П.
Югова, Т. Г.
Белогорохов, И. А.

Влияние толщины нанослоя Ti на процесс самоотделения толстых эпитаксиальных слоев GaN [Текст] / А. А. Югов [и др.]. - С. 415-419. с. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

5.

Влияние толщины нанослоя Ti на процесс самоотделения толстых эпитаксиальных слоев GaN [Текст] / А. А. Югов [и др.]. - С. 415-419. с. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.




    Влияние толщины нанослоя Ti на процесс самоотделения толстых эпитаксиальных слоев GaN [Текст] / А. А. Югов [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2016. - Т. 50, вып. 3.

Кл.слова (ненормированные):
квазиподложки -- нанослой титана -- эпитаксиальные слои -- нитридизация аморфного слоя Ti -- метод хлоридно-гидридной эпитаксии
Доп.точки доступа:
Югов, А. А.
Малахов, С. С.
Донсков, А. А.
Духновский, М. П.
Князев, С. Н.
Козлова, Ю. П.
Югова, Т. Г.
Белогорохов, И. А.

621.382 С 232

    Сборник научных трудов по проблемам микроэлектроники / Московский институт электронной техники ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков]. - Москва : [Изд-во Московского института электронной техники], 1975. - 298 с. : ил., табл. - (Физико-химическая серия. Эпитаксия II ; вып. 20). - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные процессы -- эпитаксиальные слои -- тонкие пленки -- полупроводниковые соединения
Доп.точки доступа:
Чистяков, Ю. Д. \ред.\
Московский институт электронной техники

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Сборник научных трудов по проблемам микроэлектроники [Текст] / Московский институт электронной техники ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков], 1975. - 298 с. с.

6.

Сборник научных трудов по проблемам микроэлектроники [Текст] / Московский институт электронной техники ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков], 1975. - 298 с. с.


621.382 С 232

    Сборник научных трудов по проблемам микроэлектроники / Московский институт электронной техники ; [отв. ред. Ю. Д. Чистяков]. - Москва : [Изд-во Московского института электронной техники], 1975. - 298 с. : ил., табл. - (Физико-химическая серия. Эпитаксия II ; вып. 20). - Библиогр. в конце ст.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные процессы -- эпитаксиальные слои -- тонкие пленки -- полупроводниковые соединения
Доп.точки доступа:
Чистяков, Ю. Д. \ред.\
Московский институт электронной техники

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

621.315 Г 687
Горелик, Семен Самуилович.
    Материаловедение полупроводников и диэлектриков : учебник для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский. - Москва : Металлургия, 1988. - 574 с. - Библиогр. : с. 566-568.. - ISBN 5229004207
Предметный указ. : с. 569-574.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- диэлектрические системы -- диффузия в полупроводниках -- ядерная реакция -- полупроводниковые фазы -- эпитаксиальные слои -- диэлектрические пленки
Доп.точки доступа:
Дашевский, Михаил Яковлевич

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Горелик, Семен Самуилович. Материаловедение полупроводников и диэлектриков [Текст] : учебник для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский., 1988. - 574 с. с.

7.

Горелик, Семен Самуилович. Материаловедение полупроводников и диэлектриков [Текст] : учебник для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский., 1988. - 574 с. с.


621.315 Г 687
Горелик, Семен Самуилович.
    Материаловедение полупроводников и диэлектриков : учебник для вузов / С. С. Горелик, М. Я. Дашевский. - Москва : Металлургия, 1988. - 574 с. - Библиогр. : с. 566-568.. - ISBN 5229004207
Предметный указ. : с. 569-574.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые приборы -- диэлектрические системы -- диффузия в полупроводниках -- ядерная реакция -- полупроводниковые фазы -- эпитаксиальные слои -- диэлектрические пленки
Доп.точки доступа:
Дашевский, Михаил Яковлевич

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

621.315 Б 28
Батавин, Виталий Васильевич.
    Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович ; [ред. кол. : А. Г. Алексенко, В. В. Батавин, Р. А. Валитов и др.]. - Москва : Радио и связь, 1985. - 264 с. : табл., ил. - (Измерения в электронике.). - Библиогр. : с. 251-262.
Ред. указ. на обор. тит. л.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- эпитаксиальные слои -- микроэлектроника -- дефекты кристаллов -- электронная техника -- генерация заряда
Доп.точки доступа:
Концевой, Юлий Абрамович
Федорович, Юрий Вячеславович
Алексенко, А. Г. \ред.\
Валитов, Р. А. \ред.\

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Батавин, Виталий Васильевич. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [Текст] / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович ; [ред. кол. : А. Г. Алексенко, В. В. Батавин, Р. А. Валитов и др.]., 1985. - 264 с. с.

8.

Батавин, Виталий Васильевич. Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур [Текст] / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович ; [ред. кол. : А. Г. Алексенко, В. В. Батавин, Р. А. Валитов и др.]., 1985. - 264 с. с.


621.315 Б 28
Батавин, Виталий Васильевич.
    Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур / В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович ; [ред. кол. : А. Г. Алексенко, В. В. Батавин, Р. А. Валитов и др.]. - Москва : Радио и связь, 1985. - 264 с. : табл., ил. - (Измерения в электронике.). - Библиогр. : с. 251-262.
Ред. указ. на обор. тит. л.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
полупроводниковые материалы -- эпитаксиальные слои -- микроэлектроника -- дефекты кристаллов -- электронная техника -- генерация заряда
Доп.точки доступа:
Концевой, Юлий Абрамович
Федорович, Юрий Вячеславович
Алексенко, А. Г. \ред.\
Валитов, Р. А. \ред.\

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)


Панкратов, Е. Л.; ин-т физики микроструктур РАН
    Динамика примеси при формировании p-n-переходов в неоднородных структурах. Оптимизация времени отжига / Е. Л. Панкратов; ???? Поступила в редакцию 08. 12. 2005 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 37-44. - Библиогр.: с. 43-44 (17 назв. ). - Содержание: Оптимизация времени отжига

УДК
ББК 22.37

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
примеси -- неоднородные структуры -- отжиг -- p-n-переходы -- неоднородности -- диффузия -- эпитаксиальный слой-подложка -- эпитаксиальные слои -- подложки
Аннотация: Проведен анализ динамики примеси при ее диффузии в неоднородной структуре в процессе производства p-n-перехода. Путем анализа функции влияния неоднородности коэффициента диффузии в пространстве, необходимые для увеличения резкости и выбора глубины p-n-перехода и проведена оптимизация времени отжига, при котором достигается компромиссное соотношение между увеличением резкости и равномерности распределения примеси в обогащенных ею областях p-n-перехода.

Панкратов, Е. Л.; ин-т физики микроструктур РАН Динамика примеси при формировании p-n-переходов в неоднородных структурах. Оптимизация времени отжига [Текст] / Е. Л. Панкратов; ???? Поступила в редакцию 08. 12. 2005 г. (Введено оглавление) // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 37-44

9.

Панкратов, Е. Л.; ин-т физики микроструктур РАН Динамика примеси при формировании p-n-переходов в неоднородных структурах. Оптимизация времени отжига [Текст] / Е. Л. Панкратов; ???? Поступила в редакцию 08. 12. 2005 г. (Введено оглавление) // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 37-44



Панкратов, Е. Л.; ин-т физики микроструктур РАН
    Динамика примеси при формировании p-n-переходов в неоднородных структурах. Оптимизация времени отжига / Е. Л. Панкратов; ???? Поступила в редакцию 08. 12. 2005 г. // Микроэлектроника. - Т. 36, N 1 (2007), С. 37-44. - Библиогр.: с. 43-44 (17 назв. ). - Содержание: Оптимизация времени отжига

УДК
ББК 22.37

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
примеси -- неоднородные структуры -- отжиг -- p-n-переходы -- неоднородности -- диффузия -- эпитаксиальный слой-подложка -- эпитаксиальные слои -- подложки
Аннотация: Проведен анализ динамики примеси при ее диффузии в неоднородной структуре в процессе производства p-n-перехода. Путем анализа функции влияния неоднородности коэффициента диффузии в пространстве, необходимые для увеличения резкости и выбора глубины p-n-перехода и проведена оптимизация времени отжига, при котором достигается компромиссное соотношение между увеличением резкости и равномерности распределения примеси в обогащенных ею областях p-n-перехода.

621.382 Ч-498
Черняев, Владимир Николаевич.
    Технология эпитаксиальных слоев арсенида галлия и приборы на их основе / В. Н. Черняев, Л. В. Кожитов. - Москва : Энергия, 1974. - 231 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 215-229.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные слои арсенида галлия -- эпитаксия -- полупроводниковые приборы -- радиоэлектронные устройства -- арсенид галлия
Доп.точки доступа:
Кожитов, Лев Васильевич

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Черняев, Владимир Николаевич. Технология эпитаксиальных слоев арсенида галлия и приборы на их основе [Текст] / В. Н. Черняев, Л. В. Кожитов., 1974. - 231 с. с.

10.

Черняев, Владимир Николаевич. Технология эпитаксиальных слоев арсенида галлия и приборы на их основе [Текст] / В. Н. Черняев, Л. В. Кожитов., 1974. - 231 с. с.


621.382 Ч-498
Черняев, Владимир Николаевич.
    Технология эпитаксиальных слоев арсенида галлия и приборы на их основе / В. Н. Черняев, Л. В. Кожитов. - Москва : Энергия, 1974. - 231 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 215-229.

УДК

Кл.слова (ненормированные):
эпитаксиальные слои арсенида галлия -- эпитаксия -- полупроводниковые приборы -- радиоэлектронные устройства -- арсенид галлия
Доп.точки доступа:
Кожитов, Лев Васильевич

Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)

Страница 1, Результатов: 12

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц