Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
| УДК |
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Томас, Гарет.
Просвечивающая электронная микроскопия материалов : пер. с англ. / Г. Томас, М. Дж. Гориндж. - Москва : Наука, 1983. - 317 с. : ил., табл. - Библиогр. : с. 310-317
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая
материалы--электронная микроскопия
Кл.слова (ненормированные):
электронная микроскопия материалов -- электронные микроскопы -- дифракционный контраст в изображениях -- просвечивающая электронная микроскопия -- теория дифракционного контраста -- растровая электронная микроскопия -- микроскопия магнитных материалов -- анализ химического состава по изображениям -- изображения кристаллических структур -- дифракционные картины -- электронно-микроскопические изображения -- кикучи-картины -- оптическая дифракция -- изображения кристаллических решеток
Доп.точки доступа:
Гориндж, Майкл Дж
Экземпляры всего: 2
Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Абонемент научной литературы (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
| УДК |
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 3