Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Л 175
535 Л 175 / Л 175-Ч/З о. Русский
535.243 Л 175 / Л 175-Хранение Отдела организации и использования фонда
Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.]. - Москва : Изд-во Московского технического университета, 2003. - 351 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 259-267. - ISBN 5703821347
Авт. указ. на обор. тит. л.
Кл.слова (ненормированные):
Тихонова метод регуляризации -- газоанализаторы -- газовые смеси -- лазерный анализ -- спектроскопия -- газоанализ -- лазерный контроль
Доп.точки доступа:
Козинцев, Валентин Иванович
Белов, Михаил Леонидович
Городничев, Виктор Александрович
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Л 175
535 Л 175 / Л 175-Ч/З о. Русский
535.243 Л 175 / Л 175-Хранение Отдела организации и использования фонда
Лазерный оптико-акустический анализ многокомпонентных газовых смесей / [В. И. Козинцев, М. Л. Белов, В. А. Городничев и др.]. - Москва : Изд-во Московского технического университета, 2003. - 351 c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 259-267. - ISBN 5703821347
Авт. указ. на обор. тит. л.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
Тихонова метод регуляризации -- газоанализаторы -- газовые смеси -- лазерный анализ -- спектроскопия -- газоанализ -- лазерный контроль
Доп.точки доступа:
Козинцев, Валентин Иванович
Белов, Михаил Леонидович
Городничев, Виктор Александрович
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
О-72
535.232 О-72 / О-72-Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10)
535 О-72 / О-72-Ч/З о. Русский
Осадько, Игорь Сергеевич.
Селективная спектроскопия одиночных молекул / И. С. Осадько. - Москва : Физматлит, 2000. - 319 c. : ил. - Библиогр. : с. 316-319. - ISBN 5922100793
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия одиночных молекул -- селективная спектроскопия -- спектроскопия -- одиночные молекулы -- оптика -- фононы -- спектрофотометрия -- спектральная диффузия
Экземпляры всего: 2
Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
О-72
535.232 О-72 / О-72-Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10)
535 О-72 / О-72-Ч/З о. Русский
Осадько, Игорь Сергеевич.
Селективная спектроскопия одиночных молекул / И. С. Осадько. - Москва : Физматлит, 2000. - 319 c. : ил. - Библиогр. : с. 316-319. - ISBN 5922100793
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектроскопия одиночных молекул -- селективная спектроскопия -- спектроскопия -- одиночные молекулы -- оптика -- фононы -- спектрофотометрия -- спектральная диффузия
Экземпляры всего: 2
Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Хранение ОО и ИЕФ (Пушкинская 10) (1), Ч/З о. Русский (1)
3.
Подробнее
Киреев С.В.
Лазерное детектирование изотопов йода : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В. - М. : Б.и., 2003. - 38 c.
Кл.слова (ненормированные):
лазерная физика -- ядерная физика -- лазерные методы -- детектирование изотопов -- авторефераты -- НЛ
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Киреев С.В.
Лазерное детектирование изотопов йода : Автореф. дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.21 / Киреев С.В. - М. : Б.и., 2003. - 38 c.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
лазерная физика -- ядерная физика -- лазерные методы -- детектирование изотопов -- авторефераты -- НЛ
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
4.
Подробнее
Левин, А. Д.
Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42
ББК 24.1 + 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Химия--Общая химия. Теоретическая химия
Кл.слова (ненормированные):
микропланшетный фотометр -- оптическая плотность -- иммуноферментный анализ -- светофильтры -- интерференционные светофильтры
Аннотация: Даны количественные оценки составляющих погрешности, обусловленных спектральными характеристиками интерференционных светофильтров, искривлением поверхности жидкости в лунке микропланшета из-за его движения и капилярных эффектов. Предложены способы выявления и минимизации этих погрешностей.
Левин, А. Д.
Особенности измерения оптической плотности микропланшетными фотометрами / А. Д. Левин // Измерительная техника. - N 2 (2005), С. 40-42
| УДК |
Рубрики: Физика--Оптика
Химия--Общая химия. Теоретическая химия
Кл.слова (ненормированные):
микропланшетный фотометр -- оптическая плотность -- иммуноферментный анализ -- светофильтры -- интерференционные светофильтры
Аннотация: Даны количественные оценки составляющих погрешности, обусловленных спектральными характеристиками интерференционных светофильтров, искривлением поверхности жидкости в лунке микропланшета из-за его движения и капилярных эффектов. Предложены способы выявления и минимизации этих погрешностей.
Страница 1, Результатов: 4