Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 5
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Декорирование поверхности твердых тел / Академия наук СССР, Институт кристаллографии ; [отв. ред. Л. Д. Кисловский]. - Москва : Наука, 1976. - 111 c.
Кл.слова (ненормированные):
методы декорирования -- кристаллизация -- монокристаллы -- точечные дефекты -- научная литература
Доп.точки доступа:
Кисловский, Л. Д. \ред.\
Академия наук СССР. Институт кристаллографии
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Декорирование поверхности твердых тел / Академия наук СССР, Институт кристаллографии ; [отв. ред. Л. Д. Кисловский]. - Москва : Наука, 1976. - 111 c.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
методы декорирования -- кристаллизация -- монокристаллы -- точечные дефекты -- научная литература
Доп.точки доступа:
Кисловский, Л. Д. \ред.\
Академия наук СССР. Институт кристаллографии
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
2.
Подробнее
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360180
Приложения : с. 363-375. Предметный указатель : с. 376-377
Рубрики: материалы--микроструктура--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- ионная масс-спектрометрия -- рентгеновские микроанализаторы -- микроскопы электронные -- наноструктуры -- композиционные металлы -- нанокомпозиты -- наноматериалы -- кристаллические структуры -- кристаллические решетки -- электронная микроскопия -- рентгеновская диффракция
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Брандон, Д.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие : пер. с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - Москва : Техносфера, 2006. - 377 с. : ил., табл. - (Мир материалов и технологий ; VI, 02). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 5948360180
Приложения : с. 363-375. Предметный указатель : с. 376-377
| УДК |
Рубрики: материалы--микроструктура--исследование--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
дифракция электронов -- оптическая микроскопия -- фотоэлектронная спектроскопия -- ионная масс-спектрометрия -- рентгеновские микроанализаторы -- микроскопы электронные -- наноструктуры -- композиционные металлы -- нанокомпозиты -- наноматериалы -- кристаллические структуры -- кристаллические решетки -- электронная микроскопия -- рентгеновская диффракция
Доп.точки доступа:
Каплан, У.
Экземпляры всего: 3
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Ч/З о. Русский (2)
3.
Подробнее
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Фульц, Брент.
Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов / Б. Фульц, Дж. М. Хау ; пер. с англ. В. И. Даниленко. - Москва : Техносфера, 2011. - 903 с. : ил., табл., схем. - (Мир физики и техники ; II, 23). - Библиогр. : с. 805-820. - ISBN 9785948362915
Предметный указатель : с. 883-903. Приложения : с. 821-882
| УДК |
Рубрики: электронная микроскопия просвечивающая--учебные издания
рентгеновская микроскопия--учебные издания
дифрактометрия--учебные издания
Кл.слова (ненормированные):
дифракция -- рентегеновские лучи -- дифрактометры рентгеновские порошковые -- детекторы -- линзы -- рентгеновское рассеяние -- спектроскопия рентгеновская -- рассеяние электронов -- электронная дифракция -- дифракционные линии -- дифракционный контраст в изображениях -- диффузное рассеяние -- Паттерсона функции -- Порода закон -- Гюйгенса принцип -- физическая оптика изображений -- изображения высокого разрешения -- динамическая теория -- электронной дифракции теория -- дифракция от кристаллов -- TEM (Transmission Elektron Microscope) -- XRD (X-Ray Diffractometry) -- лабораторные работы ( электронная микроскопия)
Доп.точки доступа:
Хау, Джеймс М
Даниленко, В. И. \пер.\
Экземпляры всего: 2
Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Неклюдов, И. М.
Температурные диапазоны стабильности гидридных фаз системы Ti-D / И. М. Неклюдов, А. Н. Морозов, В. Г. Кулиш // Материаловедение. - N 11 (2005), С. 45-55
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
ионы дейтерия -- метод электронной дифракции -- электронная дифракция -- термосорбционная спектрометрия -- метод термосорбционной спектрометрии -- сплавы титана -- титан
Аннотация: Исследованы структурные превращения в титане, облученном ионами дейтерия, с использованием методов электронной дифракции (ЭГ) и термодесорбционной спектрометрии (ТДС) .
Доп.точки доступа:
Морозов, А. Н.
Кулиш, В. Г.
Неклюдов, И. М.
Температурные диапазоны стабильности гидридных фаз системы Ti-D / И. М. Неклюдов, А. Н. Морозов, В. Г. Кулиш // Материаловедение. - N 11 (2005), С. 45-55
| УДК |
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
ионы дейтерия -- метод электронной дифракции -- электронная дифракция -- термосорбционная спектрометрия -- метод термосорбционной спектрометрии -- сплавы титана -- титан
Аннотация: Исследованы структурные превращения в титане, облученном ионами дейтерия, с использованием методов электронной дифракции (ЭГ) и термодесорбционной спектрометрии (ТДС) .
Доп.точки доступа:
Морозов, А. Н.
Кулиш, В. Г.
5.
Подробнее
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
М 545
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении / [Брент Л. Адамс и др.] ; пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца [и др.]. - Москва : Техносфера, 2014. - 559, [56] л. цв. ил. с. : ил., цв. ил. - (Мир физики и техники). - ISBN 9785948363851
| УДК |
Рубрики: твердые тела--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
материалы--электронная микроскопия--монографии
материалы--структура--исследование--дифракции отраженных электронов метод--монографии
Кл.слова (ненормированные):
дифракция отраженных электронов -- ДОЭ (дифракция отраженных электронов) -- ДОЭ-метод -- метод дифракции отраженных электронов -- микроструктурный анализ (материаловедение) -- микроструктуры материалов -- ДОЭ, автоматизированная система -- Кикучи картины дифракции -- ориентационная микроскопия -- картины дифракции отраженных электронов -- кристаллографические ориентации, картирование -- дифракционные картины материалов -- детекторы картин ДОЭ -- ДОЭ, применение -- растровый электронный микроскоп -- фазовый анализ с помощью метода ДОЭ -- микроструктуры трехмерные -- кристаллографические структуры, ДОЭ-анализ
Доп.точки доступа:
Адамс, Брент Л.
Шварц, Адам Дж. \ред.\
Иванова, С. А. \пер.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Страница 1, Результатов: 5