Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 7
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Терек, Тибор
Эмиссионный спектральный анализ : в 2 частях / Т. Терек, Й. Мика, Э. Гегуш ; перевод с английского В. Н. Егорова. - Москва : Мир, 1982 - .
Ч. 1. - 286 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- источники излучения -- пробоотбор -- эмиссионный спектральный анализ -- подготовка проб
Доп.точки доступа:
Гегуш, Эрно
Мика, Йожеф
Егоров, В. Н. \ер.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Терек, Тибор
Эмиссионный спектральный анализ : в 2 частях / Т. Терек, Й. Мика, Э. Гегуш ; перевод с английского В. Н. Егорова. - Москва : Мир, 1982 - .
Ч. 1. - 286 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- источники излучения -- пробоотбор -- эмиссионный спектральный анализ -- подготовка проб
Доп.точки доступа:
Гегуш, Эрно
Мика, Йожеф
Егоров, В. Н. \ер.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Полуэктов, Николай Сергеевич.
Методы анализа по фотометрии пламени / Н. С. Полуэктов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Химия, 1967. - 306, [1] c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Кл.слова (ненормированные):
пламена (химия) -- методы химического анализа -- фотометрия пламени -- фотометры -- техника фотометрирования -- определение химических элементов
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Полуэктов, Николай Сергеевич.
Методы анализа по фотометрии пламени / Н. С. Полуэктов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Химия, 1967. - 306, [1] c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
пламена (химия) -- методы химического анализа -- фотометрия пламени -- фотометры -- техника фотометрирования -- определение химических элементов
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
3.
Подробнее
С 714
Спектральный анализ чистых веществ / Х. И. Зильберштейн, М. П. Семов, О. Н. Никитина, З. Г. Фраткин ; под редакцией Х. И. Зильберштейна. - Ленинград : Химия, 1971. - 414, [1] c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 381-410
Авт. указ. в конце кн.
Кл.слова (ненормированные):
эмиссионный спектральный анализ -- анализ чистых веществ -- вещества высокой чистоты -- спектрохимия
Доп.точки доступа:
Семов, Михаил Павлович
Никитина, Ольга Николаевна
Фраткин, Зиновий Григорьевич
Зильберштейн, Хаим Израилевич \ред.\
Экземпляры всего: 5
Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (302) (1), Абонемент учебной и научной литературы (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (302) (1), Абонемент учебной и научной литературы (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
С 714
Спектральный анализ чистых веществ / Х. И. Зильберштейн, М. П. Семов, О. Н. Никитина, З. Г. Фраткин ; под редакцией Х. И. Зильберштейна. - Ленинград : Химия, 1971. - 414, [1] c. : ил., табл. - Библиогр. : с. 381-410
Авт. указ. в конце кн.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
эмиссионный спектральный анализ -- анализ чистых веществ -- вещества высокой чистоты -- спектрохимия
Доп.точки доступа:
Семов, Михаил Павлович
Никитина, Ольга Николаевна
Фраткин, Зиновий Григорьевич
Зильберштейн, Хаим Израилевич \ред.\
Экземпляры всего: 5
Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (302) (1), Абонемент учебной и научной литературы (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1), Абонемент учебной и научной литературы (302) (1), Абонемент учебной и научной литературы (2), Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
4.
Подробнее
Райхбаум, Яков Давыдович.
Физические основы спектрального анализа / Я. Д. Райхбаум ; ответственный редактор С. В. Лонцих ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; Институт геохимии (Иркутск). - Москва : Наука, 1980. - 157, [2] c., [1] л. портр. : ил., табл. - Библиогр. : с. 154-158
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- анализ вещества -- точность спектрального анализа -- спектры -- спектральные линии
Доп.точки доступа:
Лонцих, С. В. \ред.\
Институт геохимии (Иркутск)
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Райхбаум, Яков Давыдович.
Физические основы спектрального анализа / Я. Д. Райхбаум ; ответственный редактор С. В. Лонцих ; Академия наук СССР, Сибирское отделение, Институт геохимии ; Институт геохимии (Иркутск). - Москва : Наука, 1980. - 157, [2] c., [1] л. портр. : ил., табл. - Библиогр. : с. 154-158
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- анализ вещества -- точность спектрального анализа -- спектры -- спектральные линии
Доп.точки доступа:
Лонцих, С. В. \ред.\
Институт геохимии (Иркутск)
Экземпляры всего: 2
Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (1), Ч/З о. Русский (1)
5.
Подробнее
Терек, Тибор
Эмиссионный спектральный анализ : в 2 частях / Т. Терек, Й. Мика, Э. Гегуш ; перевод с английского В. Н. Егорова. - Москва : Мир, 1982 - .
Ч. 2. - 464 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- визуальный спектральный анализ -- погрешность результатов измерений -- спектрографический анализ -- спектрометрический анализ -- эмиссионный спектральный анализ
Доп.точки доступа:
Гегуш, Эрно
Мика, Йожеф
Егоров, В. Н. \ер.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Терек, Тибор
Эмиссионный спектральный анализ : в 2 частях / Т. Терек, Й. Мика, Э. Гегуш ; перевод с английского В. Н. Егорова. - Москва : Мир, 1982 - .
Ч. 2. - 464 c. : ил., табл. - Библиогр. в конце гл.
Парал. тит. л. на англ. яз.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
спектральный анализ -- визуальный спектральный анализ -- погрешность результатов измерений -- спектрографический анализ -- спектрометрический анализ -- эмиссионный спектральный анализ
Доп.точки доступа:
Гегуш, Эрно
Мика, Йожеф
Егоров, В. Н. \ер.\
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
6.
Подробнее
Высокочастотный индуктивно-связанный плазменный разряд в эмиссионном спектральном анализе : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Институт химии силикатов ; ответственный редактор Х. И. Зильберштейн. - Ленинград : Наука, 1987. - 222, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.
Кл.слова (ненормированные):
плазменный разряд -- механизмы возбуждения -- спектральный анализ -- спектроскопия
Доп.точки доступа:
Зильберштейн, Х. И. \ред.\
Институт химии силикатов (Ленинград)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Высокочастотный индуктивно-связанный плазменный разряд в эмиссионном спектральном анализе : сборник научных трудов / Академия наук СССР, Институт химии силикатов ; ответственный редактор Х. И. Зильберштейн. - Ленинград : Наука, 1987. - 222, [1] с. : ил., табл. - Библиогр. в конце ст.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
плазменный разряд -- механизмы возбуждения -- спектральный анализ -- спектроскопия
Доп.точки доступа:
Зильберштейн, Х. И. \ред.\
Институт химии силикатов (Ленинград)
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
7.
Подробнее
Чичерская, Анна Леонидовна.
Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - Екатеринбург : [б. и.], 2016. - 24 с., включ. обл. : ил., табл. - Библиогр. : с. 23-24.
На правах рукописи.
Рубрики: гальванические покрытия--толщина--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций
гальванические покрытия--химический состав--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций
спектральный анализ атомно-эмиссионный
Кл.слова (ненормированные):
определение химического состава покрытий -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- тлеющий разряд постоянного тока -- гальванические покрытия Ni-P -- скорость катодного распыления -- толщина гальванических покрытий -- химический состав гальванических покрытий -- анализ гальванических покрытий -- АЭС ТРПТ (атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока метод) -- метрология спектрального анализа -- авторефераты диссертаций
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Чичерская, Анна Леонидовна.
Определение химического состава и толщины гальванических покрытий методом атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата химических наук : 02.00.02 / А. Л. Чичерская. - Екатеринбург : [б. и.], 2016. - 24 с., включ. обл. : ил., табл. - Библиогр. : с. 23-24.
На правах рукописи.
| УДК |
Рубрики: гальванические покрытия--толщина--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций
гальванические покрытия--химический состав--определение--метод АЭС ТРПТ--авторефераты диссертаций
спектральный анализ атомно-эмиссионный
Кл.слова (ненормированные):
определение химического состава покрытий -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- тлеющий разряд постоянного тока -- гальванические покрытия Ni-P -- скорость катодного распыления -- толщина гальванических покрытий -- химический состав гальванических покрытий -- анализ гальванических покрытий -- АЭС ТРПТ (атомно-эмиссионной спектроскопии с тлеющим разрядом постоянного тока метод) -- метрология спектрального анализа -- авторефераты диссертаций
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Страница 1, Результатов: 7