Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 3
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Порай-Кошиц, Михаил Александрович.
Основы структурного анализа химических соединений : учебное пособие для химических специальностей университетов / М. А. Порай-Кошиц. - Москва : Высшая школа, 1982. - 150, [1] c. : ил., табл.
Прил. : с. 143-149
Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- структурная кристаллография -- структурный анализ -- кристаллическая решетка -- рентгеноструктурный анализ -- симметрия кристалла
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
Порай-Кошиц, Михаил Александрович.
Основы структурного анализа химических соединений : учебное пособие для химических специальностей университетов / М. А. Порай-Кошиц. - Москва : Высшая школа, 1982. - 150, [1] c. : ил., табл.
Прил. : с. 143-149
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
кристаллография -- структурная кристаллография -- структурный анализ -- кристаллическая решетка -- рентгеноструктурный анализ -- симметрия кристалла
Экземпляры всего: 1
Ч/З о. Русский (1)
Свободны: Ч/З о. Русский (1)
2.
Подробнее
Бокий, Георгий Борисович.
Практический курс рентгеноструктурного анализа : учебное пособие для вузов / Г. Б. Бокий, М. А. Порай-Кошиц. - Москва : Изд-во Московского университета, 1951. - 430 с. : ил., табл.
Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллических структур -- пространственные группы симметрии -- ромбопирамидальный вид симметрии -- правильные системы точек -- рентгеновские лучи -- кристаллы -- симметрия кристаллов -- типы решеток кристаллов
Доп.точки доступа:
Порай-Кошиц, М. А.
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Бокий, Георгий Борисович.
Практический курс рентгеноструктурного анализа : учебное пособие для вузов / Г. Б. Бокий, М. А. Порай-Кошиц. - Москва : Изд-во Московского университета, 1951. - 430 с. : ил., табл.
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
симметрия кристаллических структур -- пространственные группы симметрии -- ромбопирамидальный вид симметрии -- правильные системы точек -- рентгеновские лучи -- кристаллы -- симметрия кристаллов -- типы решеток кристаллов
Доп.точки доступа:
Порай-Кошиц, М. А.
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
3.
Подробнее
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Суворов, Эрнест Витальевич.
Материаловедение. Методы исследования структуры и состава материалов : учебное пособие для вузов по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям / Э. В. Суворов. - 2-е изд., перераб. и доп. - Москва : Юрайт, 2021. - 179, [1] с. : ил., табл. - (Высшее образование) (УМО ВО рекомендует). - Библиогр. в конце гл.. - ISBN 9785534060119
| УДК |
Рубрики: материаловедение--учебные издания для вузов
кристаллы--структура--исследование--рентгенодифракционные методы--учебные издания для вузов
материалы--электронная микроскопия--учебные издания для вузов
твердые тела--рентгеноструктурный анализ--учебные издания для вузов
Кл.слова (ненормированные):
теория рассеяния рентгеновских лучей -- рассеяние в неупорядоченных системах -- волновое поле в кристаллах -- рентгеновская дифракционная топография -- рентгеновская дифракционная микроскопия -- электронная микроскопия высокого разрешения -- растровая электронная микроскопия -- электронные микроскопы растровые -- рентгеновский микроанализ -- физика дифракции -- методы структурных исследований материалов -- рентгеновские топографические методы -- дифракционное изображение -- дифракционный контраст -- рентгеновская топография -- дифракционный структурный анализ -- физика твердого тела -- физическое материаловедение
Экземпляры всего: 1
Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1)
Страница 1, Результатов: 3