Перейти к содержимому
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Шевченко, В. В.
Обратные волны в киральных средах и волноводах / В. В. Шевченко; ???? поступила в редакцию 20. 06. 2005 г. // Радиотехника и электроника. - N 11 (2005), С. 1369-1373. - Библиогр.: с. 1373 (28 назв. )
ББК 32 + 22.34
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
обратные волны -- электромагнитные волны -- киральные среды -- плоские волны -- планарные волноводы
Аннотация: Рассмотрены плоские электромагнитные волны в однородных изотропных киральных магнитодиэлектрических средах, у которых вещественные части диэлектрической и магнитной проницаемостей либо положительные, либо одновременно отрицательные, и волны, напрявляемые планарными волноводами, содержащими такие среды.
Шевченко, В. В.
Обратные волны в киральных средах и волноводах / В. В. Шевченко; ???? поступила в редакцию 20. 06. 2005 г. // Радиотехника и электроника. - N 11 (2005), С. 1369-1373. - Библиогр.: с. 1373 (28 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
обратные волны -- электромагнитные волны -- киральные среды -- плоские волны -- планарные волноводы
Аннотация: Рассмотрены плоские электромагнитные волны в однородных изотропных киральных магнитодиэлектрических средах, у которых вещественные части диэлектрической и магнитной проницаемостей либо положительные, либо одновременно отрицательные, и волны, напрявляемые планарными волноводами, содержащими такие среды.
2.
Подробнее
Хасанов, Т.
Чувствительный метод определения оптических постоянных одноосных кристаллов / Т. Хасанов; ???? поступила в редакцию 23. 03. 2007 г. // Радиотехника и электроника. - Т. 52, N 9 (2007), С. 1160-1166. - Библиогр.: с. 1166 (24 назв. )
ББК 32 + 22.34
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика-- Оптика
Кл.слова (ненормированные):
одноосные кристаллы -- оптические параметры -- кристаллический кварц
Аннотация: Предложен простой чувствительный метод экспериментального определения толщины пластинки из одноосного кристалла и его показателей преломления соответственно с точностью до 10&-3; мкм и 10&-6;. Показано, что в этом методе максимальная точность определения оптических параметров ограничивается флуктуациями температуры внутри кристалла. Представлены экспериментальные результаты определения температурных коэффициентов показателей преломления и линейного расширения для плоскопараллельной пластинки из искусственного кристаллического кварца, врезанного параллельно оптической оси.
Хасанов, Т.
Чувствительный метод определения оптических постоянных одноосных кристаллов / Т. Хасанов; ???? поступила в редакцию 23. 03. 2007 г. // Радиотехника и электроника. - Т. 52, N 9 (2007), С. 1160-1166. - Библиогр.: с. 1166 (24 назв. )
| УДК |
Рубрики: Радиоэлектроника--Общие вопросы радиоэлектроники
Физика-- Оптика
Кл.слова (ненормированные):
одноосные кристаллы -- оптические параметры -- кристаллический кварц
Аннотация: Предложен простой чувствительный метод экспериментального определения толщины пластинки из одноосного кристалла и его показателей преломления соответственно с точностью до 10&-3; мкм и 10&-6;. Показано, что в этом методе максимальная точность определения оптических параметров ограничивается флуктуациями температуры внутри кристалла. Представлены экспериментальные результаты определения температурных коэффициентов показателей преломления и линейного расширения для плоскопараллельной пластинки из искусственного кристаллического кварца, врезанного параллельно оптической оси.
Страница 1, Результатов: 2