Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры/Корчевский, В. В.

 

QR-код документа

Оценок: 0


Корчевский, В. В.
    Применение численных методов для оценки погрешностей определения параметров кристаллической структуры / В. В. Корчевский // Измерительная техника. - N 3 (2006), С. 61-64

УДК
539.26
ББК 22.37

Рубрики: Физика--Физика твердого тела

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские дифрактометры -- численные методы -- инструментальные погрешности -- эталонные образцы -- оценка погрешностей -- кристаллические структуры
Аннотация: Рассмотрено использование численных методов для оценки составляющих инструментальной и методической погрешностей измерений параметров кристаллической структуры с помощью рентгеновского дифрактометра.

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Мессбауэровская спектроскопия и структура интерфейсов на атомном масштабе в металлических наносистемах/Уздин, В. М.
О влиянии внутренних напряжений на диффузию в наноструктурных сплавах/Кесарев, А. Г.
Эффективная масса вихреподобных доменных стенок в магнитных пленках с плоскостной анизотропией/Корзунин, Л. Г.
Мессбауэровские исследования термической стабильности слоистых металлических систем/Русаков, В. С.
Прыжок русской лягушки/Оганесян, Тигран.