Изучение профилей распределения атомов по глубине свободных нанопленочных систем типа Si-Me

 

QR-код документа

Оценок: 0



    Изучение профилей распределения атомов по глубине свободных нанопленочных систем типа Si-Me [Текст] / Б. Е. Умирзаков [и др.]. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 4.

Кл.слова (ненормированные):
свободная пленка Cu (100) -- поверхностная нанопленка Si -- тонкие пленки меди -- монокристаллические пленки
Доп.точки доступа:
Умирзаков, Б. Е.
Исаханов, З. А.
Рузибаева, М. К.
Мухтаров, З. Э.
Халматов, А. С.

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг