Системный подход к метрологии квантовых многочастичных систем/Александров, В. С.

 

QR-код документа

Оценок: 0


Александров, В. С.
    Системный подход к метрологии квантовых многочастичных систем / В. С. Александров, Н. Н. Трунов, А. А. Лобашев // Измерительная техника. - N 4 (2008), С. 3-7

УДК
389
ББК 30.10

Рубрики: Техника

   Метрология

Кл.слова (ненормированные):
квантовые компьютеры -- наносистемы -- квантовые многочастичные системы -- квантовая физика -- квантовая механика -- квантовая метрология -- периодические системы элементов -- теория измерений -- теория систем
Аннотация: Введены и изучены количественные характеристики периодической системы элементов (ПСЭ), включая корреляцию свойств, а также рассмотрены иерархии систем, приводящие к ПСЭ и ее аналогам, перспективные применения - наносистемы и квантовые компьютеры.
Доп.точки доступа:
Трунов, Н. Н.
Лобашев, А. А.

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Проблемы повышения точности оценки температурных деформаций прецизионных деталей и соединений/Кайнер, Г. Б.
Об устойчивости и мощности критериев проверки однородности средних/Лемешко, Б. Ю.
Выбор структуры модели при обработке результатов измерений в системах управления/Карабутов, Н. Н.
Контурное оценивание усеченных распределений при решении измерительных задач/Левин, С. Ф.
Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии/Тодуа, П. А.