Исследование упругой силы и поверхностного затухания в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа/Петров, А. Б.

 

QR-код документа

Оценок: 0


Петров, А. Б.
    Исследование упругой силы и поверхностного затухания в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа / А. Б. Петров // Метрология. - N 4 (2009), С. 25-34. - Библиогр.: с. 34 (19 назв. )

УДК
389+53
ББК 30.10 + 22.3

Рубрики: Техника

   Метрология

   Физика

   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовые микроскопы -- контактный режим -- полуконтактный режим -- бесконтактный режим -- кантилеверы -- поверхность -- упругие силы -- затухание колебаний
Аннотация: Режимы работы атомно-силового микроскопа и методика исследования свойств поверхности полимеров.

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг

Похожие издания по классификации

Анализ влияния механических вибраций на погрешности измерений в рефрактометрических интерференционных системах/Мищенко, Ю. В.
Способ оценки качества объективов на основе светового плоского и телесного углов/Славнов, С. Г.
Вопросы метрологического обеспечения средств измерений характеристик люминесценции/Муравская, Н. П.
О предполагаемом происхождении и вычислимости физических констант/Котюк, А. Ф.
Математическая формализация критериев оптимальности основных метрологических характеристик волоконно-оптических преобразователей с открытым оптическим каналом/Кривулин, Н. П.