Емкостная спектроскопия глубоких центров в полупроводниках/Берман, Лев Соломонович.

 

QR-код документа

Оценок: 0

537.311.322
Б 50
Берман, Лев Соломонович.
    Емкостная спектроскопия глубоких центров в полупроводниках / Л. С. Берман, А. А. Лебедев ; [отв. ред. С. М. Рывкин] ; Академия наук СССР, Физико-технический институт. ; Академия наук СССР, Физико-технический институт. - Ленинград : Наука, 1981. - 176 c. : ил. - Библиогр. : с. 170-174.

УДК
537.311.322
621.315.592.082.72
543.42

Кл.слова (ненормированные):
фотоемкость -- исследование радиационных дефектов -- полупроводники -- применение емкостной спектроскопии -- спектроскопия -- емкостная спектроскопия -- радиационные дефекты
Доп.точки доступа:
Лебедев, Александр Александрович
Рывкин, С. М. \ред.\
Академия наук СССР. Физико-технический институт

Экземпляры всего: 2
Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)
Свободны: Хранение Отдела организации и использования фонда (1), Абонемент учебной и научной литературы (1)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг