Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем/Глудкин, Олег Павлович.

 

QR-код документа

Оценок: 0

621.396.6.77.001.4(075.8)
Г 551
Глудкин, Олег Павлович.
    Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем : учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. - Москва : Энергия, 1980. - 360 с. : ил., табл. - (Для студентов вузов). - Библиогр. : с. 355. - Приложение : с. 347-354

УДК
621.396.6.77.001.4(075.8)

Кл.слова (ненормированные):
микроэлементы -- микросхемы -- испытательное оборудование -- контрольно-измерительная аппаратура -- методы прогнозирования надежности
Доп.точки доступа:
Черняев, Владимир Николаевич

Экземпляры всего: 13
Абонемент 402 (11), Ч/З студенческий (1), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент 402 (11), Ч/З студенческий (1), Книгохранение (1)

Авторизуйтесь для получения дополнительных услуг