Перейти к содержимому
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 4
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
Евтихиева, Ольга Анатольевна.
Лазерная рефрактография / О. А. Евтихиева, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс ; под ред. Б. С. Ринкевичюса. - Москва : Физматлит, 2008. - 174 с. : табл., ил., фотоил.. - ISBN 9785922110440
ББК 32.86-01
Рубрики: оптика--преломление--лазерная рефрактография--монографии
оптоэлектроника--лазерная рефрактография--теория--монографии
Кл.слова (ненормированные):
лазерная рефрактография -- преломление света -- коэффициент преломления -- рефракция света -- лазерные пучки -- рефрактограммы -- микронеоднородностей диагностика (оптоэлектроника) -- диагностика сред (оптика) -- лазерное излучение (модуляция интенсивности) -- структурированное лазерное излучение (СЛИ) -- оптические неоднородности -- лазерные рефрактографические системы -- цифровая обработка рефрактограмм
Доп.точки доступа:
Расковская, Ирина Львовна
Ринкевичюс, Бронюс Симович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
Евтихиева, Ольга Анатольевна.
Лазерная рефрактография / О. А. Евтихиева, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс ; под ред. Б. С. Ринкевичюса. - Москва : Физматлит, 2008. - 174 с. : табл., ил., фотоил.. - ISBN 9785922110440
| УДК |
Рубрики: оптика--преломление--лазерная рефрактография--монографии
оптоэлектроника--лазерная рефрактография--теория--монографии
Кл.слова (ненормированные):
лазерная рефрактография -- преломление света -- коэффициент преломления -- рефракция света -- лазерные пучки -- рефрактограммы -- микронеоднородностей диагностика (оптоэлектроника) -- диагностика сред (оптика) -- лазерное излучение (модуляция интенсивности) -- структурированное лазерное излучение (СЛИ) -- оптические неоднородности -- лазерные рефрактографические системы -- цифровая обработка рефрактограмм
Доп.точки доступа:
Расковская, Ирина Львовна
Ринкевичюс, Бронюс Симович \ред.\
Экземпляры всего: 1
Книгохранение (1)
Свободны: Книгохранение (1)
2.
Подробнее
Расковская, И. Л.
Особенности отображения каустик при рефракции структурированного лазерного излучения в стратифицированных средах [Текст] / И. Л. Расковская. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 6.
Кл.слова (ненормированные):
каустик -- рефракция лазерного излучения -- структурированное лазерное излучение -- стратифицированная среда -- отображение каустик -- продольное зондирование
Расковская, И. Л.
Особенности отображения каустик при рефракции структурированного лазерного излучения в стратифицированных средах [Текст] / И. Л. Расковская. // 7 nnas. Журнал технической физики. - Санкт-Петербург : Наука,. - 2015. - Т. 85, вып. 6.
Кл.слова (ненормированные):
каустик -- рефракция лазерного излучения -- структурированное лазерное излучение -- стратифицированная среда -- отображение каустик -- продольное зондирование
3.
Подробнее
Расковская, И. Л.
Лазерная рефрактография оптически неоднородных сред / И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс, А. В. Толкачев // Квантовая электроника. - Т. 37, N 12 (2007), С. 1176-1180. - Библиогр.: с. 1180 (12 назв. )
ББК 32.86 + 22.34
Рубрики: Физика
Радиоэлектроника
Оптика
Квантовая электроника
Кл.слова (ненормированные):
конвекция -- рефракция -- лазерные измерения -- лазерная рефрактография -- структурированное лазерное излучение
Аннотация: Изложены принципы лазерной рефрактографии - нового метода диагностики оптически неоднородных сред и потоков, основанного на рефракции пространственно структурированного лазерного излучения.
Доп.точки доступа:
Ринкевичус, Б. С.
Толкачев, А. В.
Расковская, И. Л.
Лазерная рефрактография оптически неоднородных сред / И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс, А. В. Толкачев // Квантовая электроника. - Т. 37, N 12 (2007), С. 1176-1180. - Библиогр.: с. 1180 (12 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика
Радиоэлектроника
Оптика
Квантовая электроника
Кл.слова (ненормированные):
конвекция -- рефракция -- лазерные измерения -- лазерная рефрактография -- структурированное лазерное излучение
Аннотация: Изложены принципы лазерной рефрактографии - нового метода диагностики оптически неоднородных сред и потоков, основанного на рефракции пространственно структурированного лазерного излучения.
Доп.точки доступа:
Ринкевичус, Б. С.
Толкачев, А. В.
4.
Подробнее
Нгуен, В. Т.
Алгоритмы количественной диагностики оптических неоднородностей методом лазерной рефрактографии / В. Т. Нгуен, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс // Измерительная техника. - N 4 (2009), С. 24-28
ББК 30.10
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
лазерные пучки -- рефракция -- лазерная рефрактограмма -- неоднородная среда -- структурированное лазерное излучение -- пограничный слой
Аннотация: Описаны основы новой измерительной технологии - лазерной рефрактографии, предназначенной для визуализации и количественной диагностики прозрачных оптически неоднородных сред.
Доп.точки доступа:
Расковская, И. Л.
Ринкевичюс, Б. С.
Нгуен, В. Т.
Алгоритмы количественной диагностики оптических неоднородностей методом лазерной рефрактографии / В. Т. Нгуен, И. Л. Расковская, Б. С. Ринкевичюс // Измерительная техника. - N 4 (2009), С. 24-28
| УДК |
Рубрики: Техника
Метрология
Кл.слова (ненормированные):
лазерные пучки -- рефракция -- лазерная рефрактограмма -- неоднородная среда -- структурированное лазерное излучение -- пограничный слой
Аннотация: Описаны основы новой измерительной технологии - лазерной рефрактографии, предназначенной для визуализации и количественной диагностики прозрачных оптически неоднородных сред.
Доп.точки доступа:
Расковская, И. Л.
Ринкевичюс, Б. С.
Страница 1, Результатов: 4