Перейти к содержимому 
База данных: Электронный каталог ДВФУ
Страница 1, Результатов: 2
Отмеченные записи: 0
1.
Подробнее
А 878
Архитектурное черчение : справочник / Д. И. Ткач, Н. Л. Русскевич, П. Р. Ниринберг [и др.] ; под редакцией Д. И. Ткача. - Киев : Будивэльнык, 1991. - 271, [1] с. : ил. - Библиогр. : с. 264-265. - ISBN 5770501820
Предметный указатель: с. 266-269
Кл.слова (ненормированные):
архитектурное проектирование -- изображение объекта -- архитектурная графика -- плоскостное макетирование -- геометрические построения -- шрифты -- тени на архитектурных чертежах -- аксонометроия -- перспектива (архитектура) -- чертежи строительные
Доп.точки доступа:
Русскевич, Николай Лукич
Ниринберг, Павел Рафаилович
Ткач, Дмитрий Иванович \ред.\
Экземпляры всего: 3
Абонемент учебной и научной литературы (402) (2), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (2), Книгохранение (1)
А 878
Архитектурное черчение : справочник / Д. И. Ткач, Н. Л. Русскевич, П. Р. Ниринберг [и др.] ; под редакцией Д. И. Ткача. - Киев : Будивэльнык, 1991. - 271, [1] с. : ил. - Библиогр. : с. 264-265. - ISBN 5770501820
Предметный указатель: с. 266-269
| УДК |
Кл.слова (ненормированные):
архитектурное проектирование -- изображение объекта -- архитектурная графика -- плоскостное макетирование -- геометрические построения -- шрифты -- тени на архитектурных чертежах -- аксонометроия -- перспектива (архитектура) -- чертежи строительные
Доп.точки доступа:
Русскевич, Николай Лукич
Ниринберг, Павел Рафаилович
Ткач, Дмитрий Иванович \ред.\
Экземпляры всего: 3
Абонемент учебной и научной литературы (402) (2), Книгохранение (1)
Свободны: Абонемент учебной и научной литературы (402) (2), Книгохранение (1)
2.
Подробнее
Резикян, А. Г.
Возможности реконструкции образа при сканировании решеткой фокусов атомных линз от электронного пучка / А. Г. Резикян, В. В. Смирнов // Журнал технической физики. - Т. 75, N 10 (2005), С. 99-103. - Библиогр.: c. 103 (16 назв. )
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
атомные линзы -- изображение объекта -- реконструкция образа -- сканирование -- электронная микроскопия
Аннотация: При использовании рядов атомов в слое кристалла в качестве фокусирующих элементов для фокусировки пучка от электронного микроскопа на выходе из кристалла получается распределение интенсивности, представляющее собой решетку тонких пиков диаметром порядка 0. 03 и 0. 04 nm на расстоянии первой фурье-плоскости. Приведены результаты моделирования схемы микроскопии со сканированием образца такой решетки, при котором из детектируемого сигнала восстанавливается функция прохождения образца. Качество восстановления зависит от вида и величины искажений, обусловленных различными факторами. Некоторые из них были промоделированы, а именно: случайный шум, который вносится в регистрируемый сигнал в ходе эксперимента, и неточности знаний о падающей на образец волне, связанные с неточностью знаний о ширине первичного электронного пучка, падающего на фокусирующий кристалл. Выявлены диапазоны величин искажений позволяющих с допустимым качеством визуализировать образец.
Доп.точки доступа:
Смирнов, В. В.
Резикян, А. Г.
Возможности реконструкции образа при сканировании решеткой фокусов атомных линз от электронного пучка / А. Г. Резикян, В. В. Смирнов // Журнал технической физики. - Т. 75, N 10 (2005), С. 99-103. - Библиогр.: c. 103 (16 назв. )
| УДК |
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
атомные линзы -- изображение объекта -- реконструкция образа -- сканирование -- электронная микроскопия
Аннотация: При использовании рядов атомов в слое кристалла в качестве фокусирующих элементов для фокусировки пучка от электронного микроскопа на выходе из кристалла получается распределение интенсивности, представляющее собой решетку тонких пиков диаметром порядка 0. 03 и 0. 04 nm на расстоянии первой фурье-плоскости. Приведены результаты моделирования схемы микроскопии со сканированием образца такой решетки, при котором из детектируемого сигнала восстанавливается функция прохождения образца. Качество восстановления зависит от вида и величины искажений, обусловленных различными факторами. Некоторые из них были промоделированы, а именно: случайный шум, который вносится в регистрируемый сигнал в ходе эксперимента, и неточности знаний о падающей на образец волне, связанные с неточностью знаний о ширине первичного электронного пучка, падающего на фокусирующий кристалл. Выявлены диапазоны величин искажений позволяющих с допустимым качеством визуализировать образец.
Доп.точки доступа:
Смирнов, В. В.
Страница 1, Результатов: 2