Электронный каталог


 

База данных: ЭБС Лань

Страница 1, Результатов: 2

Отмеченные записи: 0

621.313(07)
Аполлонский, С. М.
    Надежность и эффективность электрических аппаратов / С. М. Аполлонский, Ю. В. Куклев. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 448 с.. - ISBN 978-5-8114-1130-6
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки. Рекомендовано Учебно-методическим объединением по университетскому политехническому образованию в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 140400 — «Техническая физика» и 220100 — «Системный анализ и управление».
. - https://e.lanbook.com/book/167900

УДК
ББК З 264я7

Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроэнергетика и электротехника--Лань

Кл.слова (ненормированные):
высшее образование -- гриф умо -- учебные пособия -- электрические аппараты -- техника -- электротехника -- учебные издания -- надежность электрических аппаратов -- электрические машины -- восстановления -- диагностика электрических аппаратов -- логика математическая -- математическая логика -- математические методы -- множеств теория -- надежности теория -- надежность испытание многофакторное -- объект надежность показатель -- операция логическая -- отказы -- отказы поток -- процесс марковский -- процесс случайный -- расчет надежности -- расчеты надежности аппаратов -- резервирования метод -- рекомендовано умо -- система сложная -- статистические методы -- теория множеств -- теория надежности -- техническая диагностика
Аннотация: Рассмотрены вопросы надежности электрических аппаратов, используемых в современных электроэнергетических системах. Изложены математические методы в теории надежности электрических аппаратов, включающие количественные показатели надежности, элементы общей теории множеств и элементы математической логики, статистические методы оценки, методы, описывающие потоки отказов и восстановлений. Проанализированы практические методы расчета надежности электрических аппаратов. Учебное пособие разработано на основании государственных образовательных стандартов высшего профессионального образования и предназначено для студентов высших технических учебных заведений очной, заочной и очно-заочной форм обучения, изучающих надежность и эффективность электрических аппаратов. Может быть полезно для магистрантов, аспирантов, преподавателей, а также для широкого круга научных и инженерно-технических работников, столкнувшихся с отмеченными проблемами в электроэнергетических системах.

Доп.точки доступа:
Куклев, Ю. В.

Аполлонский, С. М. Надежность и эффективность электрических аппаратов [Электронный ресурс] , 2022. - 448 с.

1.

Аполлонский, С. М. Надежность и эффективность электрических аппаратов [Электронный ресурс] , 2022. - 448 с.

Открыть исходную запись


621.313(07)
Аполлонский, С. М.
    Надежность и эффективность электрических аппаратов / С. М. Аполлонский, Ю. В. Куклев. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 448 с.. - ISBN 978-5-8114-1130-6
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки. Рекомендовано Учебно-методическим объединением по университетскому политехническому образованию в качестве учебного пособия для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки 140400 — «Техническая физика» и 220100 — «Системный анализ и управление».
. - https://e.lanbook.com/book/167900

УДК
ББК З 264я7

Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроэнергетика и электротехника--Лань

Кл.слова (ненормированные):
высшее образование -- гриф умо -- учебные пособия -- электрические аппараты -- техника -- электротехника -- учебные издания -- надежность электрических аппаратов -- электрические машины -- восстановления -- диагностика электрических аппаратов -- логика математическая -- математическая логика -- математические методы -- множеств теория -- надежности теория -- надежность испытание многофакторное -- объект надежность показатель -- операция логическая -- отказы -- отказы поток -- процесс марковский -- процесс случайный -- расчет надежности -- расчеты надежности аппаратов -- резервирования метод -- рекомендовано умо -- система сложная -- статистические методы -- теория множеств -- теория надежности -- техническая диагностика
Аннотация: Рассмотрены вопросы надежности электрических аппаратов, используемых в современных электроэнергетических системах. Изложены математические методы в теории надежности электрических аппаратов, включающие количественные показатели надежности, элементы общей теории множеств и элементы математической логики, статистические методы оценки, методы, описывающие потоки отказов и восстановлений. Проанализированы практические методы расчета надежности электрических аппаратов. Учебное пособие разработано на основании государственных образовательных стандартов высшего профессионального образования и предназначено для студентов высших технических учебных заведений очной, заочной и очно-заочной форм обучения, изучающих надежность и эффективность электрических аппаратов. Может быть полезно для магистрантов, аспирантов, преподавателей, а также для широкого круга научных и инженерно-технических работников, столкнувшихся с отмеченными проблемами в электроэнергетических системах.

Доп.точки доступа:
Куклев, Ю. В.

***
Попов, В. Д.
    Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении / В. Д. Попов, Г. Ф. Белова. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 208 с.. - ISBN 978-5-8114-1375-1
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки
. - https://e.lanbook.com/book/168518

УДК
ББК 30.2я73

Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроника--Лань

Кл.слова (ненормированные):
n-p-n-транзистор -- биполярные имс -- биполярные ис -- биполярные транзисторы -- гибридные интегральные микросхемы -- диод шоттки -- диффузионные резисторы -- дорожка токоведущая -- изолирующие подложки -- имс -- интегральные микросхемы -- интегральные микросхемы имс -- ис на моп-транзисторах -- кмоп микросхемы -- конденсатор пленочный -- конденсаторы имс -- кремниевые цифровые интегральные микросхемы -- кремниевые цифровые ис -- микросхемы интегральные (цифровые) -- микроэлектроника (основы) -- микроэлектроника (проектирование) -- микроэлектронные схемы интегральные цифровые - проектирование -- монолитные интегральные схемы -- моп-транзисторы -- надежность ис -- пинч-резистор -- пинч-резисторы -- полупроводники -- проектирование (микроэлектроника) -- проектирование кремниевых ис -- проектирование цифровых микросхем -- радиационная стойкость имс -- радиационная стойкость ис -- резистор диффузионный -- резисторы имс -- твердотельные имс -- токоведущие дорожки -- транзистор биполярный -- учебное пособие -- шоттки диод -- электроника -- эмиттеры
Аннотация: В учебном пособии изложены физические аспекты проектирования цифровых кремниевых микросхем в твердотельном и гибридном исполнении. Рассмотрены вопросы проектирования МОП- и биполярных транзисторов и диодов, а также пассивных элементов (резисторов, конденсаторов, проводников и контактных узлов). Подробно изложены вопросы проектирования элементов гибридных микросхем. Много внимания уделено проектированию МОП- и КМОП-интегральных микросхем, так как в настоящее время именно эти ИМС занимают ведущие позиции в производстве микросхем в целом. Особенностью данного учебного пособия является описание методов повышения надежности и радиационной стойкости ИМС, поскольку микросхемы широко используются в экстремальных условиях. Учебное пособие предназначено для преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области микроэлектроники, электроники, электронных измерительных систем, а также для специалистов, интересующихся повышением надежности и радиационной стойкости ИМС.

Доп.точки доступа:
Белова, Г. Ф.

Попов, В. Д. Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении [Электронный ресурс] , 2022. - 208 с.

2.

Попов, В. Д. Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении [Электронный ресурс] , 2022. - 208 с.

Открыть исходную запись


***
Попов, В. Д.
    Физические основы проектирования кремниевых цифровых интегральных микросхем в монолитном и гибридном исполнении / В. Д. Попов, Г. Ф. Белова. - Санкт-Петербург : Лань, 2022. - 208 с.. - ISBN 978-5-8114-1375-1
Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки
. - https://e.lanbook.com/book/168518

УДК
ББК 30.2я73

Рубрики: Инженерно-технические науки--Электроника--Лань

Кл.слова (ненормированные):
n-p-n-транзистор -- биполярные имс -- биполярные ис -- биполярные транзисторы -- гибридные интегральные микросхемы -- диод шоттки -- диффузионные резисторы -- дорожка токоведущая -- изолирующие подложки -- имс -- интегральные микросхемы -- интегральные микросхемы имс -- ис на моп-транзисторах -- кмоп микросхемы -- конденсатор пленочный -- конденсаторы имс -- кремниевые цифровые интегральные микросхемы -- кремниевые цифровые ис -- микросхемы интегральные (цифровые) -- микроэлектроника (основы) -- микроэлектроника (проектирование) -- микроэлектронные схемы интегральные цифровые - проектирование -- монолитные интегральные схемы -- моп-транзисторы -- надежность ис -- пинч-резистор -- пинч-резисторы -- полупроводники -- проектирование (микроэлектроника) -- проектирование кремниевых ис -- проектирование цифровых микросхем -- радиационная стойкость имс -- радиационная стойкость ис -- резистор диффузионный -- резисторы имс -- твердотельные имс -- токоведущие дорожки -- транзистор биполярный -- учебное пособие -- шоттки диод -- электроника -- эмиттеры
Аннотация: В учебном пособии изложены физические аспекты проектирования цифровых кремниевых микросхем в твердотельном и гибридном исполнении. Рассмотрены вопросы проектирования МОП- и биполярных транзисторов и диодов, а также пассивных элементов (резисторов, конденсаторов, проводников и контактных узлов). Подробно изложены вопросы проектирования элементов гибридных микросхем. Много внимания уделено проектированию МОП- и КМОП-интегральных микросхем, так как в настоящее время именно эти ИМС занимают ведущие позиции в производстве микросхем в целом. Особенностью данного учебного пособия является описание методов повышения надежности и радиационной стойкости ИМС, поскольку микросхемы широко используются в экстремальных условиях. Учебное пособие предназначено для преподавателей, аспирантов и студентов, специализирующихся в области микроэлектроники, электроники, электронных измерительных систем, а также для специалистов, интересующихся повышением надежности и радиационной стойкости ИМС.

Доп.точки доступа:
Белова, Г. Ф.

Страница 1, Результатов: 2

 

Все поступления за 
Или выберите интересующий месяц